[发明专利]一种发光二极管的光学检测装置

权利要求书

1.一种发光二极管的光学检测装置，用以检测发光二极管，包括：

载具，包括：

承载台，具有第一表面、与该第一表面相对的第二表面以及第一侧表面，该承载台之局部或全部区域之透光度具可调变性；

支撑体，连接于该承载台，且该支撑体具有本体、凸部及延伸部，其中，该本体覆盖该第一侧表面，该凸部是从该本体延伸且凸伸于该承载台的该第一表面，以及该延伸部是从该本体延伸且覆盖部分的该第二表面；以及

第一真空孔，设于该支撑体；

收光器，朝向该承载台设置，该收光器包含收光端以及出光端；以及

波长转换组件，设于该发光二极管的发光面与该收光器的该出光端之间。

2.根据权利要求1所述的发光二极管的光学检测装置，其中该第一真空孔设置于该支撑体的该凸部。

3.根据权利要求1所述的发光二极管的光学检测装置，其中该凸部具有面对该第一侧表面的第二侧表面，该第一真空孔设于该第二侧表面。

4.根据权利要求3所述的发光二极管的光学检测装置，其中，该凸部更包括远离该第一表面的上表面，且该载具更包括第二真空孔；其中，该第二真空孔设置于该凸部的该上表面。

5.根据权利要求1所述的发光二极管的光学检测装置，其中该第一真空孔设于该延伸部。

6.根据权利要求1所述的发光二极管的光学检测装置，其中该本体及该承载台之间具有间隙。

7.根据权利要求1所述的发光二极管的光学检测装置，其中该波长转换组件设于该承载台的该第一表面或该第二表面上。

8.根据权利要求1所述的发光二极管的光学检测装置，其中该收光器更包含收光端以及出光端，该波长转换组件设于该收光端或该出光端。

9.根据权利要求1所述的发光二极管的光学检测装置，其中该波长转换组件用以将该发光二极管所发出具有第一波长的光线部分地转换为第二波长，且该第一波长与该第二波长相异。

10.根据权利要求9所述的发光二极管的光学检测装置，其中该波长转换组件具有转盘式结构，且包含第一波长转换件以及第二波长转换件，其中该第一波长转换件将该第一波长转换为第三波长，该第二波长转换件将该第一波长转换为第四波长，且该第三波长与该第四波长相异。

11.一种发光二极管的光学检测装置，用以检测发光二极管，包括：

承载台，用以承载该发光二极管，该承载台之局部或全部区域之透光度具可调变性；

点测器，朝向该承载台设置；

收光器，朝向该承载台设置，以收集该发光二极管所发出的光线，该收光器包含收光端以及出光端；以及

波长转换组件，设于该发光二极管的发光面与该收光器的该出光端之间，用以转换该发光二极管所发出光线的波长。

12.根据权利要求11所述的发光二极管的光学检测装置，其中，该承载台包含第一区域及第二区域，该第一区域或/及该第二区域之透光度是藉由物理量分别调变。

13.根据权利要求12所述的发光二极管的光学检测装置，其中，该第一区域的透光度高于该第二区域的透光度，且该第二区域是环绕该第一区域。

14.根据权利要求11所述的发光二极管的光学检测装置，其中，该发光二极管发出的光线具有第一波长，该波长转换组件转换部分该第一波长为第二波长，且该第一波长与该第二波长相异。

15.根据权利要求11所述的发光二极管的光学检测装置，其中，该发光二极管发出的光线被转换并混合为白光。