[发明专利]一种铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法在审
申请号: | 201610151195.9 | 申请日: | 2016-03-16 |
公开(公告)号: | CN105671506A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 方峰;张夜雨;陈海洋;张旭海;周雪峰;蒋建清 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08;C23C14/58 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 冯慧 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 修饰 掺杂 氧化 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,步骤为:
第一步,磁控预溅射:采用磁控溅射法和双靶共溅射工艺,Ar气真空环境下,在洁净的衬底材料上,采用Ti和Cu靶进行预溅射;分别调整Cu靶、Ti靶的角度为60°~90°;
第二步,磁控溅射:预溅射后,通入氧气和氮气的混合气体,真空下,控制Ti靶溅射功率为150W~250W,Cu靶溅射功率为20~50W,起辉后控制溅射气压为0.4~0.8Pa,开始磁控溅射;
第三步,沉积薄膜:使衬底自转,控制自转速度,调节挡板与衬底位置,开始在衬底上沉积薄膜;
第四步,薄膜沉积后退火:在氧气和氮气的混合气氛中退火。
2.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,所述的衬底材料为玻璃。
3.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,预溅射和磁控溅射时,Ti靶连接脉冲直流电源,Cu靶连接射频电源。
4.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,磁控溅射时,氧气和氮气按体积比10~20:90~80混合。
5.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,预溅射和磁控溅射在开始时,溅射室内气压均为3~5Pa。
6.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,预溅射时,Ti靶和Cu靶的功率均分别为150W~250W,起辉后,溅射气压为0.4~0.8Pa。
7.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,退火温度为300~500℃、气氛体积比O
8.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,溅射时,衬底温度为150~300℃。
9.如权利要求1所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,自转速率为20~40r/min,薄膜沉积时间控制在50~90min。
10.权利要求1~9任一所述的铜修饰氮掺杂二氧化钛薄膜的制备方法得到的薄膜,其特征在于,掺铜量0.5~1.5At.%、掺氮量4.0~12.0At.%、具有可见光响应,光吸收边位置440nm~580nm。
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