[发明专利]电源芯片测试系统及方法

权利要求书

1.一种电源芯片测试系统，其特征在于：所述电源芯片测试系统包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、与所述直流源模块及所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、与所述待测电源芯片相连用于为所述待测电源芯片提供目标负载的负载模块、与所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与所述直流源模块、所述电流测试模块、所述负载模块及所述电压测试模块相连的用于控制和管理对所述待测电源芯片的整个测试过程的上位机。

2.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统，其特征在于：所述上位机包括系统总控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述直流源模块的工作状态的直流源单控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述负载模块的工作状态的负载单控模块及与所述系统总控模块相连的测试数据信息输出模块。

3.根据权利要求2所述的电源芯片测试系统，其特征在于：所述系统总控模块包括用于设置控制所述直流源模块与所述负载模块控制指令的控制指令预设子模块、用于设置测试状态切换时间间隔的时间间隔预设子模块及用于设置测试数据存储路径及名称的存储预设子模块。

4.根据权利要求3所述的电源芯片测试系统，其特征在于：所述系统总控模块还包括用于启动或停止测试系统的系统控制子模块及用于实时显示所述待测电源芯片在不同测试条件下的输入输出数据信息的数据显示子模块。

5.一种电源芯片测试方法，包括以下步骤：

上位机初始化；

对所述上位机的系统总控模块进行参数设置；

所述系统总控模块的控制指令预设子模块、时间间隔预设子模块及存储预设子模块通过直流源单控模块及负载单控模块给直流源模块及负载模块发送控制指令，并通过系统控制子模块切换测试状态；

所述系统总控模块的控制指令预设子模块、时间间隔预设子模块及存储预设子模块给电流测试模块及电压测试模块发送测试指令，对待测电源芯片进行测试；及

电流测试模块及电压测试模块将测试数据返回至所述系统总控模块的数据显示子模块及测试数据信息输出模块进行显示并输出。

6.根据权利要求5所述的电源芯片测试方法，其特征在于：对所述上位机的系统总控模块进行参数设置包括通过所述系统总控模块的控制指令预设子模块设置控制直流源模块与负载模块的控制指令、通过所述系统总控模块的时间间隔预设子模块设置测试状态切换的时间 间隔、通过所述系统总控模块的存储预设子模块设置测试数据存储路径及名称。