[发明专利]电源芯片测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别是涉及一种电源芯片测试系统及方法。

背景技术

在集成电路的测试中，为了保证电源芯片的稳定性，往往会对电源芯片的各项工作参数进行测试。

现有的电源测试方案主要应用于解决大功率开关电源在生产线上的量产测试，针对电源芯片的测试，其成套系统的造价非常昂贵，且软硬件配置过剩。因此，在对电源芯片进行测试时，不得不采用人工测试的方法，一边调整输入电压与负载大小，一边记录输入电流与输出电压，假设有9个以上样片、4种温度条件、4个以上输入电压条件、6个左右负载条件的情况下，至少有864个输入电流数据及864个输出电压数据需要测试并记录，这无疑是一项巨大的工作量。而且，人工测试难免出现部分数据记录有误的情况，对后续数据分析工作造成了影响。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种能够进行自动测试的电源芯片测试系统及方法，可以对被测电源芯片进行自动线性调整、负载调整的测试，自动采集输入电流、输出电压数据，并能将完整的测试数据信息进行记录并输出。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种电源芯片测试系统，所述电源芯片测试系统包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、与所述直流源模块及所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、与所述待测电源芯片相连用于为所述待测电源芯片提供目标负载的负载模块、与所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与所述直流源模块、所述电流测试模块、所述负载模块及所述电压测试模块相连的用于控制和管理对所述待测电源芯片的整个测试过程的上位机。

所述上位机包括系统总控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述直流源模块的工作状态的直流源单控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述负载模块的工作状态的负载单控模块及与所述系统总控模块相连的测试数据信息输出模块。

所述系统总控模块包括用于设置控制所述直流源模块与所述负载模块控制指令的控制指令预设子模块、用于设置测试状态切换时间间隔的时间间隔预设子模块及用于设置测试数据存储路径及名称的存储预设子模块。

所述系统总控模块还包括用于启动或停止测试系统的系统控制子模块及用于实时显示所 述待测电源芯片在不同测试条件下的输入输出数据信息的数据显示子模块。

一种电源芯片测试方法，包括以下步骤：

上位机初始化；

对所述上位机的系统总控模块进行参数设置；

所述系统总控模块的控制指令预设子模块、时间间隔预设子模块及存储预设子模块通过直流源单控模块及负载单控模块给直流源模块及负载模块发送控制指令，并通过系统控制子模块切换测试状态；

所述系统总控模块的控制指令预设子模块、时间间隔预设子模块及存储预设子模块给电流测试模块及电压测试模块发送测试指令，对待测电源芯片进行测试；及

电流测试模块及电压测试模块将测试数据返回至所述系统总控模块的数据显示子模块及测试数据信息输出模块进行显示并输出。

对所述上位机的系统总控模块进行参数设置包括通过所述系统总控模块的控制指令预设子模块设置控制直流源模块与负载模块的控制指令、通过所述系统总控模块的时间间隔预设子模块设置测试状态切换的时间间隔、通过所述系统总控模块的存储预设子模块设置测试数据存储路径及名称。

本发明的有益效果是：可以对被测电源芯片进行自动线性调整、负载调整的测试，自动采集输入电流、输出电压数据，并能将完整的测试数据信息进行记录并输出，从而实现对目标数据的自动采集、存储并输出，使得设计人员能够更快更准确的获得实验数据。

附图说明

图1为本发明电源芯片测试系统的系统结构图；

图2为本发明电源芯片测试方法的方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案，但本发明的保护范围不局限于以下所述。