[发明专利]框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法

说明书

本发明提供一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法。本发明的框胶固化率测试样品的制备方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。本发明的框胶固化率测试方法，利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除后，采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，计算得到框胶固化率，该方法操作简单，提高了框胶固化率测试的可执行性，测试结果的准确度高，为制程监控及框胶异常解析提供数据。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法。

背景技术

随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线，通过通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。

通常液晶显示面板由彩膜(CF，Color Filter)基板、薄膜晶体管(TFT，Thin FilmTransistor)基板、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

根据目前Cell制造流程，CF基板或TFT基板在配向膜(PI)制程后进行框胶的涂布，然后进行液晶滴入，在CF和TFT上下基板对组完成后进行框胶的固化，形成密封的液晶盒(LCD Cell)。框胶的固化程度会直接影响框胶的粘合力，进而影响液晶盒的密封性能及可靠性表现，因此需测试框胶固化率。

目前测试框胶固化率方法为用外力将CF基板与TFT基板拉开，但因为框胶与黑色矩阵(BM)的粘合力大于黑色矩阵与玻璃的粘合力，故CF基板与TFT基板分开时表现为CF基板表面的黑色矩阵从CF基板上剥离，覆盖在TFT基板的框胶表面，从而影响了框胶的取样测试，目前只能用刀片等方法刮除框胶表面的黑色矩阵，然后再进行框胶固化率测试。但此去除黑色矩阵的方法操作困难，成功率较低，影响测试的可行性。

故此，开发一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法显得尤为迫切。

发明内容

本发明的目的在于提供一种框胶固化率测试样品的制备方法，操作简单，成功率高，制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。

本发明的目的还在于提供一种框胶固化率测试方法，采用上述方法制得框胶固化率测试样品后，采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图，通过计算得到框胶固化率，操作简单，测试结果的准确度高。

为实现上述目的，本发明提供一种框胶固化率测试样品的制备方法，包括如下步骤：

步骤1、获取表面附着有框胶和黑色矩阵的TFT基板，作为待测样本；

步骤2、将所述待测样本放置于容器中，在所述容器中加入碱性溶液，浸泡所述待测样本，直至黑色矩阵软化；

步骤3、将软化的黑色矩阵从框胶上剥离，得到由TFT基板与附着于其上的框胶构成的框胶固化率测试样品。