[发明专利]检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法

权利要求书

1.一种检测单元，其特征在于，包括：

一短路线组，包括

一第一短路线；

一第二短路线；以及

一第三短路线；

至少一引线组，包括

一R像素引线，连接至所述第一短路线；

一G像素引线，连接至所述第二短路线；

一B像素引线，连接至所述第三短路线；以及

一W像素引线，连接至所述第二短路线；以及

至少一信号线组，每一信号线组连接至一引线组，所述信号线组包括：

一R像素信号线，连接至所述R像素引线；

一G像素信号线，连接至所述G像素引线；

一B像素信号线，连接至所述B像素引线；以及

一W像素信号线，连接至所述W像素引线。

2.一种阵列基板，包括：

一显示区，其内设有液晶以及至少一数据线组；以及

一非显示区，设置于所述显示区周围，其内设有至少一如权利要求1所述的检测单元；其中，每一数据线组连接至一信号线组，所述数据线组包括：

一R像素数据线，连接至所述R像素信号线；

一G像素数据线，连接至所述G像素信号线；

一B像素数据线，连接至所述B像素信号线；以及

一W像素数据线，连接至所述W像素信号线。

3.一种液晶显示装置，包括如权利要求2所述的阵列基板。

4.一种基于如权利要求2所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

将至少一数据线组通过至少一信号线组及至少一引线组连接至一短路线组，构成至少一检测线路；

通过至少一检测信号点模拟输入至少一检测信号；

点亮液晶，在显示区显示至少一纯色画面和/或混色画面；以及

在纯色画面和/或混色画面下，检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象，检测所述检测线路的走线是否存在短路现象。

5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，将至少一数据线组通过至少一引线组连接至一短路线组，具体包括如下步骤：

将一R像素数据线通过一R像素引线连接至一第一短路线；

将一G像素数据线通过一G像素引线连接至一第二短路线；

将一B像素数据线通过一B像素引线连接至一第三短路线；以及

将一W像素数据线通过一W像素引线连接至一第二短路线；

上述各步骤的先后次序可以任意交换。