[发明专利]检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法

说明书

本发明提出一种新的技术方案，包括一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，对原有RGB液晶显示器生产工艺进行简单的改进，减少短路线的数量，只需改动一张Array光罩，即可使RGBW液晶显示器半成品实现纯色及混色的点灯检测，有效降低生产成本。

技术领域

本发明涉及一种液晶显示器技术，特别涉及一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板的液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的主体结构包括液晶面板和背光模组，液晶面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在其间的液晶盒。随着液晶技术的迅猛发展，原有RGB三色技术已经不能满足客户的需求，近年来，RGBW四色技术因其高穿透率、高亮度和低能耗的特点更容易受到客户的青睐。

在显示器的制作过程中，LCD光板在绑定IC前，需要对液晶盒进行点灯检测，筛选出不良产品，防止其进入下一步的工序。阵列基板上设置有与单色数据线一一对应的信号线，液晶盒检测(cell test)时，通过与每条信号线对应的引针/引线(pin)输入检测信号，检测信号相同的信号线与同一条短路线短接。

如图1所示，在RGB液晶显示器工艺中的检测单元，一般包括三条(R/G/B)短路线(shorting bar)111、112、113，分别通过三条像素引线121、122、123连接至三条像素信号线131、132、133，在液晶盒检测(cell test)阶段用来点亮白色/纯红/纯绿/纯蓝画面，以检查屏幕质量。同理，如图2所示，在RGBW液晶显示器工艺中，一般也会设计四条(R/G/B/W)短路线211、212、213、214，通过四条像素引线221、222、223、224连接至四条像素信号线231、232、233、234，在液晶盒检测(cell test)阶段用来点亮全白/纯红/纯绿/纯蓝/纯白画面，以检查屏幕质量。

RGBW显示器是RGB显示器的一种改进技术，在产品升级过程中，生产厂家为了节约成本，会尽可能地利用原有设备以及工艺，因此在RGBW显示器的生产工艺中，厂家希望尽可能地减少结构部件，如Array光罩，在设计上的改动。倘若RGBW显示器的Array光罩与RGB显示器的Array光罩完全相同，厂家在生产Array光罩时只需要一套模具即可。

然而，如图3所示，在RGB显示器升级为RGBW显示器的过程中，如果完全不改动Array光罩，短路线及引线的排线连接方式与RGB显示器(图1)完全一样，由于输入的像素信号线由三条变为四条，每一条短路线上都会有白色像素介入，在液晶盒检测(cell test)阶段，就只能点亮纯白画面，而不能点亮纯色画面；因此，Array光罩必须要改动，设计人员只能尽量减少需要改动的Array光罩的数量。如果将RGB液晶显示器工艺中三条短路线(R/G/B)的设计方案(如图1)改成RGBW液晶显示器工艺中的四条短路线(R/G/B/W)的设计方案(如图2)，则需要改动2张以上的Array光罩。不仅如此，RGB显示器中所用的光罩，其版面图上并没有足够空间来增加走线数目，需要更换全新的Array光罩。而Array光罩技术改动过多，厂家的生产成本就会明显提高。因此，RGBW显示器加工领域，需要一个全新的设计方案，在尽可能减少Array光罩改动的前提下，在液晶盒检测(cell test)阶段实现纯色点灯的效果。

发明内容

本发明的目的在于，解决现有的RGBW液晶显示器生产工艺中，短路线较多、Array光罩改动较大、生产成本较高等技术问题。