[发明专利]用于测试磁卡电路的测试方法、设备和系统在审

专利信息
申请号: 201610234686.X 申请日: 2016-04-15
公开(公告)号: CN105738798A 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 陈建斌 申请(专利权)人: 福建联迪商用设备有限公司
主分类号: G01R31/316 分类号: G01R31/316
代理公司: 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 代理人: 林祥翔;吕元辉
地址: 350003 福建省福州市鼓*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 磁卡 电路 方法 设备 系统
【权利要求书】:

1.用于测试磁卡电路的测试设备,其特征在于,包括恒定电压产生模块、结果判断模块;

恒定电压产生模块连接被测设备的磁卡电路,被测试设备的MCU连接结果判定模块;

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号;

结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等,若相等则被测设备的磁卡电路正常,否则被测设备的磁卡电路异常。

2.用于测试磁卡电路测试系统,其特征在于,包括用于测试磁卡电路的测试设备、包含磁卡电路的被测设备;

所述用于测试磁卡电路的测试设备包括恒定电压产生模块、结果判断模块;

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号;

所述结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等,若相等则被测设备的磁卡电路正常,否则被测设备的磁卡电路异常;

所述包含磁卡电路的被测设备包括磁卡电路、AD转换模块、MCU;

所述磁卡电路用于接收电压模拟信号,并将电压模拟信号放大;

所述AD转换模块将放大后的电压模拟信号转换为数字信号;

所述MCU将数字信号发送到测试设备的结果判断模块;

恒定电压产生模块连接磁卡电路,磁卡电路连接AD转换模块,MCU包括AD转换模块,MCU连接结果判定模块。

3.根据权利要求2所述的测试系统,其特征在于,所述包含磁卡电路的被测设备为POS机。

4.磁卡测试方法,其特征在于,包括步骤:

由测试设备产生一个恒定电压的模拟信号;

将该恒定电压的模拟信号发送到被测设备的磁卡电路;

被测设备的磁卡电路将所述模拟信号放大;

通过AD将放大后的模拟信号转换为数字信号,

被测设备将所述数字信号发送给测试设备,

测试设备判断接收到的数字信号和恒定电压值是否相等,若相等则被测设备的磁卡电路正常,否则被测设备的磁卡电路异常。

5.根据权利要求4所述的磁卡测试方法,其特征在于,所述包含磁卡电路的被测设备为POS机。

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