[发明专利]用于测试磁卡电路的测试方法、设备和系统

说明书

技术领域

本发明涉及硬件测试，特别是磁卡模块电路的测试。

背景技术

现有技术中主板上的磁卡模块电路的测试方法：测试设备产生类似于磁卡信号的小信号并送入被测设备的磁卡电路，由其放大后输送到MCU，MCU读取并解析该信号，来并将解析结果返回给测试设备，测试设备将原定义的信息与收到的解析信息进行对比，从而判断被测的磁卡模块电路是否正常，此测试方案如图1a所示。

此方案对产生磁卡信号的测试设备要求比较高，如果输出信号的占空比变化较大，即偏离原定义信号，被测设备接收到信号，会产生误判；因为磁卡信号输入为小模拟信号，即存在容易受干扰的现象，也会使输入到MCU的信号发生变化，即造成最终的误判。即此测试方案存在对测试设备要求较高、设计难度较大、测试耗时较长、因为外界环境的干扰而导致测试通过率不高等问题。

发明内容

以下给出对一个或更多个方面的简化概述以力图提供对此类方面的基本理解。此概述不是所有构想到的方面的详尽综览，并且既非旨在指认出所有方面的关键性或决定性要素亦非试图界定任何或所有方面的范围。其唯一的目的是要以简化形式给出一个或更多个方面的一些概念以作为稍后给出的更加具体的说明之序。

本发明提供一种磁卡电路测试设备和系统解决磁卡模块电路的测试效率不高的问题。

为实现上述目的发明人提供一种用于测试磁卡电路的测试设备，包括恒定电压产生模块、结果判断模块；

恒定电压产生模块连接被测设备的磁卡电路，被测试设备的MCU连接结果判定模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；

结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。

发明人还提供一种用于测试磁卡电路测试系统，包括用于测试磁卡电路的测试设备、包含磁卡电路的被测设备；

所述用于测试磁卡电路的测试设备包括恒定电压产生模块、结果判断模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；

所述结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常；

所述包含磁卡电路的被测设备包括磁卡电路、AD转换模块、MCU；

所述磁卡电路用于接收电压模拟信号，并将电压模拟信号放大；

所述AD转换模块将放大后的电压模拟信号转换为数字信号；

所述MCU将数字信号发送到测试设备的结果判断模块；

恒定电压产生模块连接磁卡电路，磁卡电路连接AD转换模块，被测试设备的AD转换模块连接结果判定模块。

进一步，所述包含磁卡电路的被测设备为POS机。

区别于现有技术，上述技术方案中通过被测设备采集电压模拟信号并进行解析，整个测试过程耗时更少，从而加快测试速度。另一方面，现有技术中测试设备需要产生磁卡信号，磁卡信号是小模拟信号，容易受环境的干扰而影响测试结果，解析磁卡信号速度慢；而本发明中测试设备通过相关电路产生电压，和产生磁卡信号的电路相比，电路结构简单，输出的电压模拟信号不容易受到干扰而影响测试结果，测试效率较高。为能达成前述及相关目的，这一个或更多个方面包括在下文中充分描述并在所附权利要求中特别指出的特征。以下描述和附图详细阐述了这一个或更多个方面的某些说明性特征。但是，这些特征仅仅是指示了可采用各种方面的原理的各种方式中的若干种，并且本描述旨在涵盖所有此类方面及其等效方面。

附图说明

以下将结合附图来描述所公开的方面，提供附图是为了说明而非限定所公开的方面，附图中相似的标号标示相似要素，并且在其中：

图1a为背景技术所述现有技术实施方式示意图；

图1b为图1中11所标识部分的放大示意图；

图1c为图1中12所标识部分的放大示意图；图1d为图1中13所标识部分的放大示意图；

图2a为本发明具体实施方式示意图(测试恒定电压)；

图2b为本发明具体实施方式示意图(测试正弦波)；

图3为本发明具体实施方式模块示意图。

附图标记说明：

10、测试设备；

11、部位标识；

12、部位标识；

13、部位标识；

110、结果判断模块；

120、恒定电压产生模块；

20、被测设备；

210、磁卡电路；