[发明专利]取向膜涂覆检测方法及检测设备

权利要求书

1.一种取向膜涂覆检测方法，其特征在于，包括：

读取待检测基板上的取向膜的图形；

获取所述取向膜的图形，并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后，测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离；

所述读取待检测基板上的取向膜的图形的步骤包括：

对所述待检测基板进行加热；

检测所述待检测基板上的取向膜所在区域和取向膜以外区域的温度差异，并根据所述温度差异生成所述待检测基板上的取向膜的图形。

2.根据权利要求1所述的取向膜涂覆检测方法，其特征在于，所述读取待检测基板上的取向膜的图形的步骤还包括：

读取第一基准点的位置信息；

所述获取所述取向膜的图形，并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后，测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离的步骤包括：

储存所述待检测基板的显示区域的图形和第二基准点的位置信息；

获取所述取向膜的图形和所述第一基准点的位置信息，并将所述第一基准点与所述第二基准点对准，以将所述取向膜的图形与所述显示区域的图形对位；

在所述取向膜的图形与所述显示区域的图形对位后，测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离；

其中，所述第一基准点和所述第二基准点为所述待检测基板上的同一位置点，当该位置点对应在所在基板的取向膜的图形上时，称为第一基准点，当该位置点对应在所在基板的显示区域的图形上时，称为第二基准点。

3.根据权利要求1～2任一项所述的取向膜涂覆检测方法，其特征在于，所述取向膜涂覆检测方法还包括：

接收测量的所述取向膜的图形的边缘上的各点到所述显示区域的图形的边缘上的对应点的距离数据。

4.根据权利要求3所述的取向膜涂覆检测方法，其特征在于，所述接收测量的所述取向膜的图形的边缘上的各点到所述显示区域的图形的边缘上的对应点的距离数据的步骤包括：

显示所述取向膜的图形的边缘上的各点到所述显示区域的图形的边缘上的对应点的距离数据。

5.一种取向膜涂覆检测设备，其特征在于，包括：

读取装置，所述读取装置用于读取待检测基板上的取向膜的图形；

与所述读取装置信号连接的处理装置，所述处理装置内储存有所述待检测基板的显示区域的图形，所述处理装置用于获取所述取向膜的图形，并在将所述取向膜的图形与所述显示区域的图形对位后，测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离；

所述读取装置包括：

基台，所述基台用于承载所述待检测基板；

设置于所述基台内的加热单元，所述加热单元用于对放置在所述基台上的待检测基板进行加热；

热感应器，所述热感应器用于检测所述待检测基板上的取向膜所在区域和取向膜以外区域的温度差异，并根据所述温度差异生成所述待检测基板上的取向膜的图形。

6.根据权利要求5所述的取向膜涂覆检测设备，其特征在于，所述读取装置还包括位置读取单元，所述位置读取单元用于读取第一基准点的位置信息；

所述处理装置包括：

存储单元，所述存储单元用于储存所述待检测基板的显示区域的图形和第二基准点的位置信息；

与所述存储单元、所述热感应器和所述位置读取单元均连接的对位单元，所述对位单元用于获取所述取向膜的图形和所述第一基准点的位置信息，并将所述第一基准点与所述第二基准点对准，以将所述取向膜的图形与所述显示区域的图形对位；

与所述对位单元连接的测量单元，所述测量单元用于在所述取向膜的图形与所述显示区域的图形对位后，测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离；

其中，所述第一基准点和所述第二基准点为所述待检测基板上的同一位置点，当该位置点对应在所在基板的取向膜的图形上时，称为第一基准点，当该位置点对应在所在基板的显示区域的图形上时，称为第二基准点。