[发明专利]取向膜涂覆检测方法及检测设备有效
申请号: | 201610236589.4 | 申请日: | 2016-04-15 |
公开(公告)号: | CN105652486B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 徐长健;马国靖;任锦宇;陆顺沙 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 取向 膜涂覆 检测 方法 设备 | ||
本发明提供了一种取向膜涂覆检测方法及检测设备,涉及显示技术领域,用于提高检测取向膜涂覆效果的精准度。其中所述取向膜涂覆检测方法包括:读取待检测基板上的取向膜的图形;获取所述取向膜的图形,并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后,测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离。本发明提供的取向膜涂覆检测方法及检测设备用于检测取向膜涂覆的效果。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种取向膜涂覆检测方法及检测设备。
背景技术
制备液晶显示面板过程中的成盒工艺为:对盒阵列基板和彩膜基板,在阵列基板和彩膜基板之间注入液晶,形成液晶层。其中,在形成液晶层之前,需先在阵列基板和彩膜基板上分别形成取向膜,从而在阵列基板和彩膜基板之间注入液晶时,注入的液晶分子能够根据取向膜沿一定的方向排列,使得液晶显示面板所显示的画面具有均匀的亮度和高的对比度。
实际操作中,通常采用将取向膜的形成溶液涂覆在基板(阵列基板和彩膜基板)上的方法,来形成取向膜,因溶液的状态难以控制,因此形成的取向膜的边缘会出现厚度不均的现象,为了使基板的显示区域上的取向膜厚度一致,需要确保形成的取向膜的边缘在基板的显示区域的边缘外,且取向膜的边缘与基板的显示区域的边缘之间的距离大于预设距离(如0.1mm),从而使得取向膜的有效区域的膜厚均匀。
较常用的检测方法是:将涂覆有取向膜的基板放置在显微镜下,并通过人为地移动镜头,来采集取向膜的图像并上传至显示屏上,从而工作人员根据显示屏上所显示的图像来测量取向膜边缘与基板显示区域边缘之间的距离。不足的是,上述检测方法主要采用人工手动进行检测,检测结果不精准。
发明内容
为克服上述现有技术中的缺陷,本发明提供一种取向膜涂覆检测设备及取向膜涂覆检测方法,以提高检测取向膜涂覆效果的精准度。
为了达到上述目的,本发明提供如下技术方案:
一方面,本发明提供了一种取向膜涂覆检测方法,包括:读取待检测基板上的取向膜的图形;获取所述取向膜的图形,并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后,测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离。
本发明提供的取向膜涂覆检测方法中,通过读取涂覆在待检测基板上的取向膜的图形,获取取向膜的图形,同时储存待检测基板具有的显示区域的图形,从而在获取取向膜的图形后,将获取的取向膜的图形与显示区域的图形进行对位处理,以使显示区域的图形与取向膜的图形中对应的基板显示区域重合,进而开始测量取向膜的图形的边缘与显示区域的图形的边缘之间的距离,测量得到的数据即为检测到的待检测基板上的取向膜的边缘与显示区域的边缘之间的距离,根据该检测结果能够判断待检测基板上的取向膜是否符合要求。因此可以看出,与通过人工手动进行检测的方法相比,上述取向膜涂覆检测方法可以精确地测量出待检测基板上取向膜边缘与显示区域边缘之间的距离,从而提高了检测取向膜涂覆效果的精准度。
另一方面,本发明还提供了一种取向膜涂覆检测设备,包括:读取装置,所述读取装置用于读取待检测基板上的取向膜的图形;与所述读取装置信号连接的处理装置,所述处理装置内储存有所述待检测基板的显示区域的图形,所述处理装置用于获取所述取向膜的图形,并在将所述取向膜的图形与所述显示区域的图形对位后,测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离。
本发明所提供的取向膜涂覆检测设备的有益效果与上述取向膜涂覆检测方法的有益效果相同,在此不再赘述。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为本发明实施例一中的取向膜涂覆检测方法的流程图;
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