[发明专利]一种逆反射标志测量仪

权利要求书

1.一种逆反射标志测量仪，包括光学暗箱(1)和光源，光源设置在光学暗箱(1)内，光学暗箱(1)的表面设置有开口，开口处设置有遮挡开口的试样，其特征在于：光学暗箱(1)上设置有调节槽(6)，调节槽(6)内设置有对试样反射的光进行引出的光纤(4)，光纤(4)连接有对光纤(4)引出的光进行检测的光探测器，调节槽(6)处设置有固定组件(5)，光纤(4)通过固定组件(5)与光学暗箱(1)可拆卸固定连接；光纤(4)为六根，每根光纤(4)对应一个光探测器，每根光纤(4) 分别对应的观测角度为0.2,0.33,0.5,1,1.5和2。

2.根据权利要求1所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：固定组件(5)包括锁定螺栓、左夹持板(51)和右夹持板(52)，左夹持板(51)和右夹持板(52)均通过锁定螺栓固定于光学暗箱(1)上，左夹持板(51)与右夹持板(52)之间形成有调节槽（6），光纤(4)夹持于调节槽（6）内。

3.根据权利要求2所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：左夹持板(51)和/或右夹持板(52)靠近夹持槽(6)一侧向外凸出形成位于两端的定位块(61)，定位块(61)的宽度小于等于光纤(4)的直径。

4.根据权利要求1所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：调节槽(6)内设置有对试样反射的光进行引出的辅助光纤(4)，辅助光纤(4)连接对辅助光纤(4)引出的光进行检测的颜色传感器。

5.根据权利要求1所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：光学暗箱(1)上形成有减重槽(2)。

6.根据权利要求5所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：减重槽(2)至少为两个，相邻减重槽(2)之间形成加强筋(7)。

7.根据权利要求1至6任意一项所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：光学暗箱(1)包括顶板(11)以及与顶板(11)固定连接的端板(12)，顶板(11)的两端设有与端板(12)配合的定位台阶(111)。

8.根据权利要求7所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：开口位于端板(12)上，开口处设有聚光筒(3)，聚光筒(3)上形成有固接板(32)，固接板(32)与端板可拆卸固定连接，聚光筒(3)一端凸出光学暗箱(1)且端部形成有与试样抵接的抵接端(31)。

9.根据权利要求8所述的逆反射标志测量仪，其特征在于：相对于设置聚光筒(3)的另一块端板(12)上设置有供光源插入的插孔，插孔外侧连通有的定位台阶孔（8）。