[发明专利]激光器的侧边耦合光栅及其制备方法、包含其的激光器有效
申请号: | 201610251536.X | 申请日: | 2016-04-21 |
公开(公告)号: | CN107306011B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 徐云;宋玉志;宋甲坤;张祖银;陈良惠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01S5/12 | 分类号: | H01S5/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光器 侧边 耦合 光栅 及其 制备 方法 包含 | ||
1.一种激光器的侧边耦合光栅的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤1:刻蚀制备激光器脊条波导,在所述脊条波导上做好电子束光刻对准标记并涂上光刻胶;
步骤2:对涂上光刻胶的脊条波导两侧进行初步电子束曝光;
步骤3:确定电子束曝光后的光栅掩膜与脊条波导的距离偏差,并在光栅版图中修正这一偏差;
步骤4:利用修正的光栅版图对样品进行正式电子束曝光并显影;
步骤5:溅射金属并进行剥离,形成侧边耦合光栅;
其中,在所述脊条波导两侧宽度为2-3μm的范围内进行电子束曝光。
2.如权利要求1所述的激光器的侧边耦合光栅的制备方法,其特征在于,所述的激光器脊条波导是通过干刻蚀法形成,脊条波导的宽度为3~5μm。
3.如权利要求1所述的激光器的侧边耦合光栅的制备方法,其特征在于,步骤2中的电子束曝光对准标记采用接触式紫外光刻制备。
4.如权利要求1所述的激光器的侧边耦合光栅的制备方法,其特征在于,步骤3中的光栅版图利用软件进行绘制编辑。
5.如权利要求1所述的激光器的侧边耦合光栅的制备方法,其特征在于,所述的光栅掩膜图形与脊条波导之间的距离偏差,是通过SEM观察确定。
6.如权利要求1所述的激光器的侧边耦合光栅的制备方法,其特征在于,步骤4中的显影采用的显影液是四甲基二戊酮和异丙醇的混合溶液。
7.采用权利要求1-6任一所述制备方法制备的激光器的侧边耦合光栅。
8.一种激光器,包含权利要求7所述的侧边耦合光栅。
9.如权利要求8所述的激光器,其特征在于,所述激光器为锑化物分布反馈激光器。
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