[发明专利]测试壳设计方法及装置

权利要求书

1.一种测试壳设计方法，其特征在于，包括：

获取设计参数，所述设计参数包括IP核功能端口信息、IP核内部扫描测试信息、WBRCell结构、测试壳并行访问宽度W_wpp和并行外部测试时测试壳并行扫描链长度其中，所述IP核内部扫描测试信息至少包括扫描链数目N_scan；所述WBRCell表示测试壳边界寄存器单元；

根据所述设计参数确定所述测试壳的输入输出端口信息以及连接方式；所述输入输出端口信息至少包括WBR端口信息；所述WBR端口信息包括WBR Cell的数目、排序、类型，WBR中针对WBR Cell的控制信号端数目、WBR中使用的选通器的数目；所述连接方式至少包括每一WBR Cell的连接方式；当选通器的数目不为0时，所述连接方式还包括每一选通器的插入位置和连接方式；所述WBR表示测试壳边界寄存器；

使用相应的连接方式完成每一WBR Cell的连接；

将所有WBR Cell的移位路径首尾相连，组成测试壳扫描链；

当选通器的数目不为0时，使用相应的连接方式插入每一选通器。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述设计参数确定所述测试壳的输入输出端口信息以及连接方式包括：

根据所述IP核功能端口信息确定WBR Cell的数目、排序和类型；

根据所述WBR Cell结构和类型确定WBR中针对WBR Cell的控制信号端数目；

根据所述WBR Cell的结构、类型和排序，确定每一WBR Cell的连接方式；

根据所述W_wpp和N_scan确定所述WBR中使用的选通器的数目；

当所述WBR中使用的选通器的数目不为0时，至少根据所述确定每一选通器的插入位置和连接方式。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述W_wpp和N_scan确定所述WBR中使用的选通器的数目包括：

根据公式N_mux＝N1+N2计算得到所述选通器的数目；其中，N_mux表示WBR中使用的选通器的数目，mux表示选通器；W_wpp＝0时，N1＝0，W_wpp≠0时，N1＝W_wpp+2×N_scan；N_scan＝0时，N2＝0；N_scan≠0时，N2＝1。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，

所述IP核功能端口信息包括IP核功能端口的方向、数目和排序；

所述根据所述IP核功能端口信息确定WBR Cell的数目、排序和类型包括：

根据所述IP核功能端口的数目确定WBR Cell的数目；

根据所述IP核功能端口的排序确定所有WBR Cell的排序；

根据所述IP核功能端口的方向确定各WBR Cell的类型。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，当N_scan＝0，W_wpp≠0时，所述使用相应的连接方式插入每一选通器包括：在第0，L₁，L₁+L₂，……，WBR单元的测试输入处插入W_wpp个选通器。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述测试壳扫描链包括测试壳输入端口链和测试壳输出端口链。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，当N_scan≠0，W_wpp＝0时，所述使用相应的连接方式插入每一选通器包括：

将IP核内部的N_scan条扫描链串联成一条串行扫描链；

将所述串行扫描链串联在所述测试壳输入端口链和所述测试壳输出端口链之间，并在所述测试壳输出端口链的第1个WBR单元的测试输入处插入1个选通器。