[发明专利]检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种检测系统,用于检测透明电路基板，该透明电路基板具有两侧，且在该电路基板的一侧布置有电路图案，通过对该电路图案施加电压，该电路图案产生水平电场，包括：

水平电场型液晶显示器件，设置在该透明电路基板的一侧，用于显示检测图案；

背光源，设置在该透明电路基板的另一侧，用于透过该透明电路基板为该液晶显示器件提供背光。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该透明电路基板包括一透明基板，该透明基板上布置有呈规则排布的多个第一电极图案和多个第二电极图案，通过施加电压，该第一电极图案与该第二电极图案形成水平电场。

3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，该水平电场型液晶显示器件包括：第一基板和第二基板，彼此相向对置，液晶层，夹设于该第一基板和该第二基板之间,施加水平电场时液晶分子水平旋转透光；第一配向膜和第二配向膜，分别配置在相向对置的该第一基板和该第二基板的内侧表面。

4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，该第一基板设置于靠近该透明电路基板一侧，该第一基板上的该第一配向膜的配向方向与该水平电场方向形成大于0度小于90度的夹角ψ₀。

5.根据权利要求4所述的检测系统，其特征在于，还包括透明导电膜，配置于该第二基板的外侧。

6.根据权利要求3-5之一所述的检测系统，其特征在于，还包括第一偏光片和第二偏光片，分别配置在相向对置的该第一基板和该第二基板的外侧表面上。

7.根据权利要求3-5之一所述的检测系统，其特征在于，还包括第一偏光片和第二偏光片，该第一偏光片配置在该背光源的光源出射一侧上，该第二偏光片配置在该第二基板的外侧。

8.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该第一偏光片的偏光轴与该第一配向膜的配向方向平行，该第二偏光片的偏光轴与该第二配向膜的配向方向平行，该第一偏光片的偏光轴与该第二偏光片的偏光轴方向垂直正交。

9.一种检测方法,用于检测透明电路基板，该透明电路基板具有两侧，且在该电路基板的一侧布置有电路图案，通过对该电路图案施加电压，该电路图案产生水平电场，包括：

提供水平电场型液晶显示器件，设置在该透明电路基板的一侧，用于根据该电路图案产生的水平电场显示检测图案；

提供背光源，设置在该透明电路基板的另一侧，用于透过该透明电路基板为该液晶显示器件提供背光。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，

在没有该电路图案施加电压时，该液晶显示器件显示全黑画面或全白画面；

在对该电路图案施加电压时，该液晶显示器件显示检测画面；

将该检测画面与标准画面对比，可以判断该透明电路基板的电路图案是否正常。