[发明专利]检测系统及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测领域，尤其涉及一种检测系统及其检测方法。

背景技术

液晶显示技术是一种电光转换技术，即根据加在液晶两侧的电场大小，改变液晶的排列状态，从而改变经过液晶层的光路方向，最终改变液晶显示装置的出光效果。液晶显示技术可以直接把不同大小的电信号转变成不同亮度的光信号，从而显示成图案。从液晶显示技术的电光特性反推，可以根据不同亮度的光信号，判断加在液晶两侧的电场大小。

IPS(In-Plane Switching)液晶显示技术利用横向电场驱动液晶分子转动，实现亮暗画面的显示。如图1所示，IPS液晶显示面板包括：下偏光片601，阵列基板602，彩膜基板606，上偏光片607，在阵列基板602和彩膜基板606之间夹设IPS液晶605,驱动IPS液晶605工作的电压由像素电极603与公共电极604提供。

如图1A所示，作为自然光的背光源穿过下偏光片601后，转换为直线偏振光。当像素电极603与公共电极604之间没有施加电压差时，IPS液晶没有发生转动，直线偏振光直接穿过液晶605与彩膜基板606。由于到达上偏光片607的偏振光，其偏振防线与上偏光片607的偏光轴方向正交，所以偏振光被全部吸收，没有光能够透过上偏光片607，IPS液晶面板显示为黑色。

如图1B所示，当像素电极603与公共电极604之间施加电压差后，形成横向电场，驱动IPS液晶发生转动，穿过下偏光片601后形成的直线偏振光，其偏振方向被液晶层改变。这些被改变了偏振方向的偏振光到达上偏光片607后，其中的一部分被上偏光片607吸收，剩下的一部分透过上偏光片607。这时，IPS液晶面板显示为白色。

现有技术中，基于横向水平电场的液晶显示模式，产生横向电场的液晶显示器件，像素电极与公共电极都分布在阵列基板上。常规的不包括像素电极与公共电极等功能电极的横向电场型液晶显示器件还未被单独制作成产品，并应用于检测电路领域。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的就是针对现有技术存在上述或其它问题，提供一种检测系统与检测方法，其利用横向电场型液晶显示器件可以高效直观的检测透明电路基板，具有检测方法简单、检测精度高、成本低的优点。

为了达到上述或其它目的，本发明一方面提出了一种检测系统,用于检测透明电路基板，该透明电路基板具有两侧，且在该电路基板的一侧布置有电路图案，通过对该电路图案施加电压，该电路图案产生水平电场，包括：水平电场型液晶显示器件，设置在该透明电路基板的一侧，用于显示检测图案；背光源，设置在该透明电路基板的另一侧，用于透过该透明电路基板为该液晶显示器件提供背光。

进一步地，该透明电路基板包括一透明基板，该透明基板上布置有呈规则排布的多个第一电极图案和多个第二电极图案，通过施加电压，该第一电极图案与该第二电极图案形成水平电场。

进一步地，该水平电场型液晶显示器件包括：第一基板和第二基板，彼此相向对置，液晶层，夹设于该第一基板和该第二基板之间,施加水平电场时液晶分子水平旋转透光；第一配向膜和第二配向膜，分别配置在相向对置的该第一基板和该第二基板的内侧表面。

进一步地，该第一基板设置于靠近该透明电路基板一侧，该第一基板上的该第一配向膜的配向方向与该水平电场方向形成大于0度小于90度的夹角ψ0。

进一步地，还包括透明导电膜，配置于该第二基板的外侧。

进一步地，还包括第一偏光片和第二偏光片，分别配置在相向对置的该第一基板和该第二基板的外侧。

进一步地，还包括第一偏光片和第二偏光片，该第一偏光片配置在该背光源的光源出射一侧上，该第二偏光片配置在该第二基板的外侧表面上。

进一步地，该第一偏光片的偏光轴与该第一配向膜的配向方向平行，该第二偏光片的偏光轴与该第二配向膜的配向方向平行，该第一偏光片的偏光轴与该第二偏光片的偏光轴方向垂直正交。

为了达到上述或其它目的，本发明另一方面提出了一种检测方法,用于检测透明电路基板，该透明电路基板具有两侧，且在该电路基板的一侧布置有电路图案，通过对该电路图案施加电压，该电路图案产生水平电场，包括：

提供水平电场型液晶显示器件，设置在该透明电路基板的一侧，用于根据该电路图案产生的水平电场显示检测图案；

提供背光源，设置在该透明电路基板的另一侧，用于透过该透明电路基板为该液晶显示器件提供背光。