[发明专利]摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法有效

专利信息
申请号: 201610297146.6 申请日: 2016-05-06
公开(公告)号: CN105783733B 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 孙鹏;董明利;吕乃光;王君;燕必希 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01C11/00
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 顾珊;陈轶兰
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 摄影 测量 长度 相对误差 绝对 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,包括步骤:

a)建立测量场,所述测量场包括反光点和背景;

b)标定基准尺;

c)将所述基准尺设置在所述测量场内,并以同一姿态保持稳定;

d)在测量场内,以第一方式移动所述基准尺并调整所述基准尺姿态,以第二方式对其拍摄图片;

e)获取所述基准尺不同位置、不同姿态的全局平差测量网络图片;

f)通过所述全局平差测量网络图片获取空间点的三维坐标;

g)识别不同位置的基准尺,并计算各位置基准尺长度;

h)求解所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si);

i)通过所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si)计算长度测量相对误差的品质参数B;

j)获得检验测量仪器是否合格结果。

2.根据权利要求1所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征是:所述步骤a)中所述反光点设置为至少包括编码反光点,还包括普通反光点,其中所述反光点数量为至少40个。

3.根据权利要求2所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征是:所述步骤b)中标定基准尺的方法为将所述普通反光点固定于所述基准尺的两端,标定基准尺长度。

4.根据权利要求2所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征在于:所述步骤d的第一方式为:所述编码反光点法向方向与相机光轴交会角平分线平行,并且所述基准尺位置覆盖被测物体积空间且有深度方向的变化。

5.根据权利要求1所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征在于:所述步骤d的第二方式为:

d1)均匀划分测量场,至少具有15个用于划分空间的节点;

d2)移动基准尺至某个节点位置;

d3)在每个节点位置,旋转基准尺,当基准尺与水平方向具有0°,45°,90°和135°时,保持当前姿态;

d4)控制相机拍摄基准尺图像;

d5)重复步骤d3和步骤d4,遍历所有节点,获取所述基准尺不同位置、不同姿态的全局平差测量网络图片。

6.根据权利要求5所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征在于:所述步骤d5)中重复步骤d3和步骤d4至少60次,以遍历所有空间节点位置。

7.根据权利要求5所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征是:所述至少15个用于划分空间的节点的排布方式为所述相机所处的最边缘两个位置相对于所述测量场的中心角度为至少90°。

8.根据权利要求1所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征是:所述步骤h)中计算所述不确定度u(Si)方法为:

h1:以校准长度与平均长度的比值作为比例因子,对所有重建的基准长度进行缩放,经缩放后,各测量长度分别为:

ksS1 ksS2 … ksSn

通过所述不同位置基准尺的长度求解相应的长度测量相对误差Δri

其中,ΔSi为所述重建出的n个位置的基准长度的误差,

h2:获取所述相对误差均值

h3:获取相对误差的不确定度u(Si)

9.根据权利要求1所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征是:所述步骤i)中计算所述品质参数B的方法为:

B=k·u(Δri)

其中,所述品质参数B定义为长度测量相对误差的扩展不确定度;k为比例因子,u(Si)表示相对误差的不确定度。

10.根据权利要求1所述的摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法,其特征是:所述步骤j)中检验测量仪器是否合格的衡量标准为所述品质参数B与L的乘积是否小于仪器标称的测量极值,所述的仪器测量极值的表示方法为

E=A+K·L

其中,A和K是常数,L是待测长度。

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