[发明专利]摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法

说明书

本发明提供了一种摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法，包括步骤：a)建立测量场，所述测量场包括反光点和背景；b)标定基准尺；c)将所述基准尺设置在所述测量场内，并以同一姿态保持稳定；d)在测量场内,以第一方式移动所述基准尺并调整所述基准尺姿态，以第二方式对其拍摄图片；e)获取所述基准尺不同位置、不同姿态的全局平差测量网络图片；f)通过所述全局平差测量网络图片获取空间点的三维坐标；g)识别不同位置的基准尺，并计算各位置基准尺长度；h)求解所述基准尺的平均长度和不确定度u(S_i)；i)通过所述基准尺的平均长度和不确定度u(S_i)计算长度测量相对误差的品质参数B；j)获得检验测量仪器是否合格结果。

技术领域

本发明涉及一种测量相对误差的绝对评价方法，尤其涉及对近景摄影测量系统进行测量精度的实验室评价。

背景技术

摄影测量技术一直被认为具有高精度、非接触、低成本和高效率的测量技术和手段。任何测量仪器都需要明确其测量不确定度，具有可靠、客观的精度评价数据，使用单位根据自己的测量精度需求选择合适的测量手段和测量仪器。

摄影测量技术出现之后很长的一段时间并未出现这样的评价标准和手段，生产商和研究者都在尝试通过各种方式对摄影测量的精度进行评估和描述，主要使用以下几种：

1.像面精度。这种方式通过光束平差结论中的像点坐标残余误差统计来描述平差质量，并定量描述测量精度；

2.空间坐标误差估计。这项指标是平差理论和技术的副产品，在平差过程结束后，通过随机误差传递模型，估计待求参数的误差。

这两种精度评价方法在本质上是一样的，只是第二种方式将像面精度的统计结果进行了误差传播分析。他们都是机械的、由像面到空间的误差传递模型，是依赖相机模型的相对精度指标，并不代表空间绝对测量精度。不同的成像模型往往会带来相同的精度指标，因此，指出自标定光束平差的内部精密度不能反映物空间的测量精度，数值上较小的物空间坐标均方根误差估计往往低估了空间长度测量的误差水平，有时候相差一个数量级。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种摄影测量中长度测量相对 误差的绝对评价方法，包括步骤：

a)建立测量场，所述测量场包括反光点和背景；

b)标定基准尺；

c)将所述基准尺设置在所述测量场内，并以同一姿态保持稳定；

d)在测量场内,以第一方式移动所述基准尺并调整所述基准尺姿态，以第二方式对其拍摄图片；

e)获取所述基准尺不同位置、不同姿态的全局平差测量网络图片；

f)通过所述全局平差测量网络图片获取空间点的三维坐标；

g)识别不同位置的基准尺，并计算各位置基准尺长度；

h)求解所述基准尺的平均长度和不确定度u(S_i)；

i)通过所述基准尺的平均长度和不确定度u(S_i)计算长度测量相对误差的品质参数B；

j)获得检验测量仪器是否合格结果。

优选地，所述步骤a中所述反光点设置为至少包括编码反光点，还包括普通反光点，其中所述反光点数量为至少40个。

优选地，所述步骤b中标定基准尺的方法为将所述普通返光点固定于所述基准尺的两端，标定基准尺长度。

优选地，所述步骤d的第一方式为：所述编码点法向方向与相机光轴交会角平分线平行，并且所述基准尺位置覆盖被测物体积空间且有深度方向的变化。

优选地，所述步骤d的第二方式为：