[发明专利]水下空间三维光谱成像仪及成像方法有效

专利信息
申请号: 201610310421.3 申请日: 2016-05-11
公开(公告)号: CN105841813B 公开(公告)日: 2017-12-26
发明(设计)人: 宋宏;郭乙陆;魏贺;刘洪波;杨萍;方美芬;冷建兴 申请(专利权)人: 浙江大学;杭州电子科技大学;杭州蓝科光电科技有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司33200 代理人: 邱启旺
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 水下 空间 三维 光谱 成像 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及水下光谱成像仪,尤其涉及一种水下空间三维光谱成像仪及成像方法。

背景技术

光谱成像仪将空间信息与光谱探测相结合,是一种有效的探测手段,目前已经广泛运用于陆地上的目标识别、生物评估、环境检测等。但将其用于水下目标探测时,由于水体对不同波段的光衰减不同,通常直接获取的光谱信息并不能直接反应目标物体的光谱信息。目前用于水下成像的高光谱成像系统(CN 203444122 U,US Patent 8,767,205)通常需要与水下测距装置协同工作,方可补偿水体的影响,获取水下光谱图像信息。且由于其成像仅为方式仅为成像面探测,故只能得到二维的像面信息,并不能获取物体的空间三维信息,故无法感知物体的位置、表面凹凸等。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供一种水下空间三维光谱成像仪及成像方法,在获取物体光谱图像的同时,探测目标上每个点与光谱仪之间的空间距离,从而获取空间三维信息,并根据距离补偿水体对光谱的衰减。

为了解决上述问题,本发明是通过以下技术方案实现的:一种水下空间三维光谱成像仪,包括前端永磁铁、底座、密封舱、成像光谱仪镜头、成像光谱仪、后端永磁铁、电磁铁、支架、水体衰减系数测量仪、控制单元;其中,所述底座上开有滑槽,所述滑槽的前端安装有前端永磁铁,所述滑槽的后端安装有后端永磁铁;所述前端永磁铁和后端永磁铁的磁极相反;所述支架安装在底座的滑槽上,沿滑槽滑动;所述支架内装有电磁铁;所述密封舱安装于支架上方,所述密封舱上开有用于安装玻璃的玻璃窗口;所述成像光谱仪和控制单元均安装在密封舱内;所述水体衰减系数测量仪固定于密封舱外侧,用于测量水体的衰减系数;所述成像光谱仪镜头安装在成像光谱仪上,所述成像光谱仪镜头透过玻璃窗口采集水下光谱图像;所述成像光谱仪、电磁铁和水体衰减系数测量仪均与控制单元相连。

进一步的,还包括数据输出接口;所述数据输出接口安装在密封舱壳体上,数据输出接口与控制单元相连。

进一步的,所述控制单元包括电源、控制模块、数据处理模块和数据存储模块;所述电源为整个系统提供工作电压;所述成像光谱仪、水体衰减系数测量仪、控制模块和数据存储模块均与数据处理模块相连;所述数据存储模块与数据输出接口相连。

一种利用上述的光谱成像仪的成像方法,包括以下步骤:

(1)水体衰减系数测量仪测量水体的光谱衰减系数α(λk)(k∈(1,n)),λk为k波段的中心波长,k为正整数,n为波段数;

(2)控制模块控制电源中电流的方向使电磁铁的磁极朝向与前端永磁铁相反,则成像光谱仪移动到底座的前端,拍摄导轨靠前位置时的光谱图像;改变电磁铁中电流流向,则成像光谱仪移动到底座的后端,拍摄导轨靠后位置时的光谱图像;

(3)使用SIFT算法对步骤(2)所采集的两组光谱图像作位置匹配;

(4)根据步骤(1)所得的光谱衰减系数和步骤(3)所得的位置匹配后的光谱图像,计算每个像素点对应位置与相机之间的距离;记某一点(x,y)在底座前端的光谱响应为If(x,y,λk)(k∈(1,n)),后端的光谱响应为Ib(x,y,λk)(k∈(1,n)),计算点(x,y)与相机之间的距离D(x,y),获得空间三维信息;计算公式如下:

其中,λ1,λ2,…,λn为波长,L0为前后两个成像位置之间的距离;

(5)根据步骤(4)计算所得的距离D(x,y),补偿水体对光谱的衰减,获得水下物体的真实光谱,计算公式如下:

其中,Ic(x,y,λk)(∈(1,n))为点(x,y)在λk波段经补偿后的光谱强度;

(6)将步骤(4)得到的空间三维信息与步骤(5)得到的真实光谱信息进行匹配,获取三维空间光谱信息Ic(x,y,D,λn)。

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