[发明专利]显示装置有效
申请号: | 201610329828.0 | 申请日: | 2016-05-18 |
公开(公告)号: | CN106920801B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 颜子旻;林明昌;李冠锋 | 申请(专利权)人: | 群创光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;G02F1/1362;G02F1/1368 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 | ||
本发明公开一种显示装置,包含:基板结构,包括:基板,具有多个像素,且每一像素具有开口区;金属氧化物晶体管,设置在基板上且包括;金属氧化物半导体层,具有第一通道区;第一栅极,对应第一通道区;以及氧化硅绝缘层,位于金属氧化物半导体层上,其中氧化硅绝缘层具有开口,且开口对应开口区设置;以及多晶硅晶体管,设置在基板上;对向基板结构;以及显示介质,位于基板结构与对向基板结构之间。
技术领域
本发明涉及显示装置,特别是涉及其阵列基板结构。
背景技术
目前常见的薄膜液晶显示器(TFT-LCD)其制作工艺可分为三大流程,第一段为驱动、显示信号制作的阵列(Array)基板制作工艺及彩色滤光基板制作工艺,第二段为液晶控制、充填与封合的液晶面板(Cell)制作工艺;第三段则是偏光片、背光模块与液晶面板组装的模块化(Module)组装制作工艺。在阵列基板制作工艺中,常采用氧化硅层与氮化硅层作为不同导电层之间的绝缘层。然而氧化硅层与氮化硅层的折射率不同,两者的界面易使光线部分反射而无法完全穿过。如此一来,将降低阵列基板的像素开口区的开口率。
综上所述,目前亟需新的阵列基板结构克服上述问题。
发明内容
本发明一实施例提供的显示装置,包含:基板结构,包括:基板,具有像素,且像素具有开口区;金属氧化物晶体管,设置在基板上且包括;金属氧化物半导体层,具有第一通道区;第一栅极,对应第一通道区;以及氧化硅绝缘层,位于金属氧化物半导体层上,其中氧化硅绝缘层具有开口,且开口对应开口区设置;以及多晶硅晶体管,设置在基板上;对向基板结构;以及显示介质,位于基板结构与对向基板结构之间。
本发明一实施例提供的显示装置,包含:基板结构,包括:基板,具有像素,且像素具有开口区;金属氧化物晶体管,设置在基板上且包括;金属氧化物半导体层,具有第一通道区;第一栅极,对应第一通道区;以及栅极绝缘层,位于第一栅极与金属氧化物半导体层之间,其中栅极绝缘层包含第一氮化硅层与第一氧化硅层,第一氧化硅层位于第一氮化硅层与金属氧化物半导体层之间;多晶硅晶体管,设置在基板上;以及氮化硅绝缘层,位于金属氧化物晶体管与多晶硅晶体管上,其中开口区中的氮化硅绝缘层直接接触第一氮化硅层;对向基板结构;以及显示介质,位于基板结构与对向基板结构之间。
附图说明
图1至图8与图12至图19为本发明实施例中,阵列基板结构的剖视图;
图9A至图9J、图10A至图10C、与图11A至图11B为本发明实施例中,阵列基板结构的制作工艺剖视图;
图20为本发明实施例中,多晶硅晶体管与金属氧化物晶体管均采用底栅极的设计的剖视图;
图21为本发明一实施例中,显示装置的示意图。
符号说明
14 遮光层
10a 像素区
10b 驱动电路
11a 金属氧化物晶体管
11n、11p 多晶硅晶体管
11o 开口区
13 基板
15、15a、15b、19a、19b、19c 缓冲层
17 多晶硅层
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的