[发明专利]降低振动台阻抗的方法

权利要求书

1.一种降低振动台阻抗的方法，其特征在于包括：

提供用作短路环的金属环，在相同温度下，所述金属环的内径与电动振动试验设备的磁芯体的外径基本相等，或者，所述金属环的外径与电动振动试验设备的磁缸体的内径基本相等；

将所述金属环加热至温度高于磁芯体，并使金属环的内径胀大至大于磁芯体的外径，再迅速将所述金属环套设到磁芯体上，

或者，将所述磁缸体加热至温度高于金属环，并使磁缸体的内径胀大至大于金属环的外径，再迅速将所述金属环插入磁缸体；

以及，使套设在所述磁芯体上的金属环与磁芯体同时冷却，形成金属环与磁芯体过盈配合的结构，并使金属环内壁面与磁芯体外壁面紧密贴合，或者，使插入所述磁缸体的金属环与磁缸体同时冷却，形成磁缸体与金属环过盈配合的结构，并使金属环外壁面与磁缸体内壁面紧密贴合。

2.根据权利要求1所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环为筒状结构，其上端沿内径向突出形成环形结构，当所述金属环与磁芯体形成过盈配合的结构时，所述金属环上端的环形结构与磁芯体上端面紧密贴合。

3.根据权利要求2所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环上端的环形结构上还分布有复数个竖直螺孔，用以通过紧固螺栓与磁芯体固定结合。

4.根据权利要求1所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环为筒状结构，其上端沿外径向突出形成环形结构，当所述金属环与磁缸体形成过盈配合的结构时，所述金属环上端的环形结构与磁缸体上端面紧密贴合。

5.根据权利要求4所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环上端的环形结构上还分布有复数个竖直螺孔，用以通过紧固螺栓与磁缸体固定结合。

6.根据权利要求1所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述磁缸体内壁下部的局部区域沿内径向突出形成限位部，所述金属环下端设置在所述限位部上。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环采用无缝金属环。

8.根据权利要求7所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环采用铜环。

9.根据权利要求7所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环的壁厚为2～10mm。

10.根据权利要求7所述的降低振动台阻抗的方法，其特征在于：所述金属环的壁厚为3～8mm。