[发明专利]RIN测量方法

权利要求书

1.一种RIN测量方法，所述方法应用在RIN测量装置中，所述RIN测量装置包括依次连接的光发射装置、光衰减器、探测器、放大器和频谱仪，以及与所述探测器连接的电流计，其特征在于，所述方法包括：

控制所述放大器通电，以使所述频谱仪测量出第一噪声谱密度；

控制所述光发射装置、所述光衰减器和所述探测器通电，并控制所述光衰减器对所述光发射装置提供的光的功率大小进行调节；

针对每次调节，根据该次调节后，所述电流计测量出的通过所述探测器的电流、所述频谱仪测量出的第二噪声谱密度以及所述第一噪声谱密度，并基于RIN、T(ω)×G(ω)、所述电流、所述第二噪声谱密度和所述第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式，其中T(ω)表示所述探测器的归一化频率响应函数，G(ω)表示所述放大器的增益谱；

根据各次调节后建立的方程式构建方程式组，并根据所述方程式组计算出所述RIN；

所述基于RIN、T(ω)×G(ω)、所述电流、所述第二噪声谱密度和所述第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式包括：

根据公式建立方程式，其中I_d表示所述电流，R表示所述探测器的负载电阻，RIN(ω)表示所述RIN，N_on(ω)表示所述第二噪声谱密度，N_off(ω)表示所述第一噪声谱密度，e表示单个电子的电荷。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述方程式组计算出T(ω)×G(ω)。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调节的次数至少为2次。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述方程式组计算出所述RIN包括：采用最小二乘法对所述方程式组中各个方程式进行曲线拟合，从而计算出所述RIN。