[发明专利]RIN测量方法

说明书

技术领域

本发明属于光发射装置性能测试领域，具体涉及一种RIN(Relative Intensity Noise，相对强度噪声)测量方法。

背景技术

随着光发射装置(诸如激光器和LED灯等)在生产生活中的广泛应用，如何准确测量光发射装置提供的光的质量好坏，从而确定光发射装置的质量成为人们越来越关注的问题，其中RIN为衡量光质量好坏的重要指标之一。目前，在采用RIN测量装置对光进行RIN测量时，通常首先需要测量出RIN测量装置中探测器的归一化频率响应函数T(ω)和放大器的增益谱G(ω)，然后基于T(ω)和G(ω)确定RIN。

然而，传统地通常采用其他测试装置对探测器的归一化频率响应函数T(ω)和放大器的增益谱G(ω)进行分别测量，在该测量过程中由于测试装置的测试准确度各有不同，因而可能存在T(ω)和G(ω)的测量准确度较低的问题，从而可能导致RIN的测量准确度较低，且该测量方式成本较高。

发明内容

本发明提供一种RIN测量方法，以解决目前RIN测量方式存在的准确度较低且成本较高的问题。

根据本发明实施例的第一方面，提供一种RIN测量方法，所述方法应用在RIN测量装置中，所述RIN测量装置包括依次连接的光发射装置、光衰减器、探测器、放大器和频谱仪，以及与所述探测器连接的电流计，所述方法包括：

控制所述放大器通电，以使所述频谱仪测量出第一噪声谱密度；

控制所述光发射装置、所述光衰减器和所述探测器通电，并控制所述光衰减器对所述光发射装置提供的光的功率大小进行调节；

针对每次调节，根据该次调节后，所述电流计测量出的通过所述探测器的电流、所述频谱仪测量出的第二噪声谱密度以及所述第一噪声谱密度，并基于RIN、T(ω)×G(ω)、所述电流、所述第二噪声谱密度和所述第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式，其中T(ω)表示所述探测器的归一化频率响应函数，G(ω)表示所述放大器的增益谱；

根据各次调节后建立的方程式构建方程式组，并根据所述方程式组计算出所述RIN。

在一种可选的实现方式中，所述方法还包括：

根据所述方程式组计算出T(ω)×G(ω)。

在另一种可选的实现方式中，所述基于RIN、T(ω)×G(ω)、所述电流、所述第二噪声谱密度和所述第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式包括：

根据公式建立方程式，其中I_d表示所述电流，R表示所述探测器的负载电阻，RIN(ω)表示所述RIN，N_on(ω)表示所述第二噪声谱密度，N_off(ω)表示所述第一噪声谱密度。

在另一种可选的实现方式中，所述调节的次数至少为2次。

在另一种可选的实现方式中，所述根据所述方程式组计算出所述RIN包括：采用最小二乘法对所述方程式组中各个方程式进行曲线拟合，从而计算出所述RIN。

本发明的有益效果是：

1、本发明通过对光发射装置提供的光的功率进行调节，针对每次调节，根据该次调节后，电流计测量出的通过探测器的电流、光发射装置、光衰减器和探测器通电时频谱仪测量出的第二噪声谱密度以及仅放大器通电时频谱仪测量出的第一噪声谱密度，基于RIN、T(ω)×G(ω)、电流、第二噪声谱密度和第一噪声谱密度之间的对应关系建立方程式，并根据各次调节后建立的方程式构成的方程式组计算出RIN，可以避免采用其他测试装置对T(ω)、G(ω)分别进行单独测量，从而减少在对T(ω)、G(ω)分别进行单独测量的环节中所引入的误差，由此可以提高RIN测量的准确度，并降低测量成本；

2、本发明在根据方程式组计算出RIN的同时，还计算出T(ω)×G(ω)，由于T(ω)和G(ω)分别代表了探测器和放大器的固有属性，其不会根据光发射装置的变化而变化，因而在T(ω)和G(ω)确定的基础上，在对下一光发射装置进行RIN测量时，基于RIN、T(ω)×G(ω)、所述电流、所述第二噪声谱密度和所述第一噪声谱密度之间的对应关系，只进行一次测量便可获得该光发射装置的RIN，由此可以提高RIN测量的效率；

3、本发明通过采用最小二乘法对方程式组中各个方程式进行曲线拟合，从而根据方程式组计算出RIN，可以进一步提高RIN测量的准确度。

附图说明

图1是本发明RIN测量方法的一个实施例流程图；

图2是本发明RIN测量装置的一个实施例结构示意图。

具体实施方式