[发明专利]DUT测试板及其使用方法

说明书

在本发明提供的DUT测试板及其使用方法中，所述DUT测试板包括电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元，利用DUT信号选择单元的两个选择端口输出需要的电源信号，进而将Vpp信号连接到所述待测样品DUT的任意一个引脚上，并利用自动切换单元实现所述Vpp信号的自动接通和断开，因此能够同时满足FT测试和VT测试的硬件要求，而且兼顾现有的硬件设置和测试程序，具有结构简单、使用方便、检测成本低的特点。

技术领域

本发明涉及集成电路检测技术领域，特别涉及一种DUT测试板及其使用方法。

背景技术

随着存储技术的发展，出现了各种类型的存储器，如随机存储器(Random AccessMemory，简称RAM)、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、动态随机存储器(DynamicRandom Access Memory，简称DRAM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable ProgrammableRead Only Memory，简称EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory，简称EEPROM)和闪存(Flash)等。其中，闪存(Flash)是一种非易失存储器，断电后数据也不会丢失，而且可在电脑或者专用设备上擦除已有信息，重新编程，即插即用。

或非门存储芯片(Nor-flash)是现在市场上应用最广的闪存芯片之一，它的出现彻底改变了原先由EPROM和EEPROM一统天下的局面。为了保证Nor-flash的性能和质量，需要对Nor-flash进行各种测试，以剔除掉不合格的产品。其中，功能测试(Functional Test，简称FT)和模拟测试(Virtualization Test，简称VT)均是Nor-flash的常规测试。进行测试时，均先将待测样品(通常是经过简单封装的芯片)插到待测样品(Device Under Test，简称DUT)测试板上，再将DUT测试板接到测试机台(Tester)上，通过测试机台的测试获得相应的测试数据。

对于Nor-flash而言，其电源脉冲电源(voltage pulse power，简称Vpp)信号的驱动能力非常弱。因此，在擦写过程当中非常容易受到外界的影响。为此，在进行擦写动作时Nor-flash的Vpp信号端一般与外界断开。FT测试包含了擦出和写入动作的电性测试，因此进行FT测试时待测产品的Vpp信号端处于悬空状态。而在VT测试过程中，则需要通过所述Vpp信号端向所述待测产品提供测试所需的电压。由此可见，所述FT测试与VT测试在硬件连接上是有差异的。

目前，FT测试和VT测试通常需要使用不同的DUT测试板，在不同的测试程序中完成。虽然，部分DUT测试板通过跳线方式能够改变连接线路，实现Vpp信号端与测试通道(tester channel)或接地信号端(GND)的连接。即在FT测试时待接地信号端(GND)与待测产品的Vpp信号端连接(此时Vpp信号端处于悬空状态)，而在VT测试时测试通道(testerchannel)通过跳线与待测产品的Vpp信号端连接(此时tester channel通过Vpp信号端向待测产品提供测试所需的电压)。但是，进行FT测试和VT测试仍需建立不同的测试程序，分别进行。而且，跳线方式是通过外部短接线实现的，因此Vpp信号端与测试通道的连接方式是固定的，无法实现自动切换。

基此，如何解决现有的Nor-flash无法在同一测试程序中完成FT测试和VT测试的问题，成了本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种DUT测试板及其使用方法，以解决现有技术中Nor-flash无法在同一测试程序中完成FT测试和VT测试的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种DUT测试板，所述DUT测试板包括：电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元；