[发明专利]测量装置及其运作方法，轨迹感测系统及其轨迹感测方法

权利要求书

1.一种测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：

一滚轮，设置于所述测量装置的底部；

至少一接近式传感器，用以检测所述测量装置与一对象间的一接近状态，并据以产生一估算距离值；

一轨迹感测模块，位于所述测量装置内，所述轨迹感测模块连续撷取所述滚轮的一区域表面的多个参考图像，并且根据所述多个参考图像来计算出所述测量装置所移动的一轨迹长度；

一光学测距模块，位于所述测量装置内，所述光学测距模块朝向所述测量装置的外部发射一光束，并根据接收反射的所述光束来计算出一距离信息；以及

一处理器，耦接于所述接近式传感器、所述轨迹感测模块及所述光学测距模块之间，并且根据所述估算距离值，来选择性地控制所述轨迹感测模块及所述光学测距模块的开启或关闭；

其中，当所述估算距离值小于一第一预设门限值时，所述处理器控制所述轨迹感测模块的开启及所述光学测距模块的关闭，而当所述估算距离值大于一第二预设门限值时，所述处理器则控制所述轨迹感测模块的关闭及所述光学测距模块的开启。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，其中所述第二预设门限值大于或等于所述第一预设门限值。

3.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，其中所述轨迹感测模块包括：

一光源，用以照射至所述滚轮的所述区域表面；

一影像感测电路，用以根据一固定的取样周期来撷取被所述光源所照射的所述区域表面的所述多个参考图像；以及

一影像分析电路，基于所述多个参考图像中的至少一纹理特征来对所述多个参考图像进行比对，以取得到所述光源于所述滚轮上的一移动轨迹，并且根据所述移动轨迹来计算出所述测量装置所移动的所述轨迹长度。

4.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，其中所述接近式传感器包括：

一发射单元，用以发送一光信号；以及

一接收单元，用以接收经反射后的所述光信号，并且根据接收到的所述光信号的强度变化，来判断出所述测量装置与所述对象之间的所述接近状态，并据以产生出所述估算距离值。

5.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，其中所述接近式传感器包括：

一影像撷取单元，用以撷取包含所述对象的一影像；以及

一像素运算处理单元，耦接于所述影像撷取单元，用以根据所述影像来计算出自于所述对象所占的一像素丛集数量，并且根据所述像素丛集数量，来判断出所述测量装置与所述对象之间的所述接近状态，并据以产生出所述估算距离值。

6.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，其中所述光学测距模块包括：

一发光组件，用以朝向所述测量装置的外部发射出所述光束；

一光学感测组件，用以根据一快门周期信号，来感测并累积反射的所述光束的能量，并据以产生一光感测信号；

一控制电路，用以控制所述发光组件于一发光时间内，持续发射出所述光束，并且于所述发光组件开始发射出所述光束后的一延迟时间，切换所述快门周期信号于一感测时间内皆表示为高电平状态，以使得所述光学感测组件感测并累积得到反射的所述光束的能量，并据以产生所述光感测信号；以及

一距离计算电路，用以根据所述发光时间内所述发光组件所发射出的所述光束的能量及所述光感测信号，来取得到一光飞行时间，并根据所述光飞行时间来计算出所述距离信息。

7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，其中所述发光组件为一发光二极管，且所述光学感测组件为一电荷耦合组件或一互补式金氧半导体感光组件。

8.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，其中所述测量装置还包括：

一显示器模块，用以显示所述光学测距模块所计算出的所述距离信息与/或所述轨迹感测模块所计算出的所述轨迹长度。