[发明专利]指纹匹配方法、指纹匹配装置和指纹识别芯片

说明书

本发明公开的一种指纹匹配方法，包括以下步骤：对待匹配指纹图像与模板指纹图像进行处理，以寻找待匹配指纹图像与模板指纹图像的匹配的特征点；根据匹配的特征点获得旋转平移量，并根据旋转平移量调整待匹配指纹图像的位置以得到两幅图像的重叠区域；对重叠区域的像素点进行纹线比对以获取纹线分数；对重叠区域的像素点进行方向场比对以获取方向场分数；根据纹线分数和方向场分数计算比对分数，并根据比对分数判断两幅指纹图像是否匹配，从而，通过纹线识别与方向场比对相结合的方式，减少了错误匹配的发生，降低了误识率，提高了指纹识别的准确度。

技术领域

本发明涉及指纹识别技术领域，特别涉及一种指纹匹配方法、一种指纹匹配装置和一种指纹识别芯片。

背景技术

相关技术的指纹识别方法，通过纹线比对的方法来进行指纹识别。但是相关技术存在的缺点是，纹线分数在纹线不重合时也可能出现较高的数值，容易导致误识。

因此，相关技术需要进行改进。

发明内容

本发明申请发明人发现并认识到：如图1所示，在纹线垂直交叉时，纹线有近50％的重合率，进而在指纹完全不重合时重合分数仍有近50分或者更高，甚至可能超过阈值而导致误识。因此，存在需求以保证纹线垂直交叉时能有效避免误识，减少错误匹配的发生。

为此，本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一，提出了一种指纹匹配方法，通过纹线识别与方向场比对相结合的方式，可以降低误识率。

本发明还提出了一种指纹识别装置。本发明又提出了一种指纹识别芯片。

为达到上述目的，本发明一方面实施例提出的一种指纹匹配方法，包括以下步骤：对待匹配指纹图像与模板指纹图像进行处理，以寻找所述待匹配指纹图像与所述模板指纹图像的匹配的特征点；根据所述匹配的特征点获得旋转平移量，并根据所述旋转平移量调整所述待匹配指纹图像的位置以得到两幅图像的重叠区域；对所述重叠区域的像素点进行纹线比对以获取纹线分数；对所述重叠区域的像素点进行方向场比对以获取方向场分数；根据所述纹线分数和所述方向场分数计算比对分数，并根据所述比对分数对所述两幅指纹图像进行匹配。

根据本发明实施例提出的指纹匹配方法，对待匹配指纹图像与模板指纹图像进行处理，以寻找待匹配指纹图像与模板指纹图像的匹配的特征点，根据匹配的特征点获得旋转平移量，并根据旋转平移量得到两幅图像的重叠区域，对重叠区域的像素点进行纹线比对以获取纹线分数，并对重叠区域的像素点进行方向场比对以获取方向场分数，然后根据纹线分数和方向场分数计算比对分数，并根据比对分数对两幅指纹图像进行匹配，从而，通过纹线识别与方向场比对相结合的方式，减少了错误匹配的发生，降低了误识率，提高了指纹识别的准确度。

根据本发明的一个具体实施例，所述对待匹配指纹图像与模板指纹图像进行处理，包括：对所述待匹配指纹图像与所述模板指纹图像进行二值化处理，以获取两幅图像对应的二值化图像，其中，所述两幅图像对应的二值化图像中具有脊线和谷线。

根据本发明的一个实施例，所述对所述重叠区域的像素点进行纹线比对以获取纹线分数，包括：统计所述重叠区域中脊线与脊线重合和谷线与谷线重合的像素点个数之和；根据第一公式计算纹线分数，其中，所述第一公式为crossore＝n/N，其中，crossore为所述纹线分数，n为所述重叠区域中脊线与脊线重合和谷线与谷线重合的像素点个数之和，N为所述重叠区域的总像素点个数。

根据本发明的另一个实施例，所述对所述重叠区域的像素点进行纹线比对以获取纹线分数，包括：根据所述匹配的特征点获取所述重叠区域中的特征重叠区域；计算所述特征重叠区域中脊线与脊线重合和谷线与谷线重合的像素点个数之和；根据第一公式计算纹线分数，其中，所述第一公式为crossore＝n1/N1，其中，crossore为所述纹线分数，n1为所述特征重叠区域中脊线与脊线重合和谷线与谷线重合的像素点个数之和，N1为所述特征重叠区域的总像素点个数。