[发明专利]失锁侦测装置、失锁侦测方法及时脉数据回复电路有效
申请号: | 201610541515.1 | 申请日: | 2016-07-11 |
公开(公告)号: | CN107612547B | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 陈昱竹;康文柱;吴正宏 | 申请(专利权)人: | 创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 侦测 装置 方法 及时 数据 回复 电路 | ||
1.一种失锁侦测装置,其特征在于,包含:
一校验器,包含多个校验单元,用以接收一数据取样信号与一边缘取样信号,并透过所述多个校验单元分别对该数据取样信号与该边缘取样信号进行校验而产生多个校验结果;
一累加器,电性连接至该校验器,用以依据所述多个校验结果而进行计数,据以产生一计数值;以及
一比较器,电性连接至该累加器,用以比较该计数值与一门槛值而产生一失锁侦测结果;
其中每一所述校验单元对该数据取样信号中的一第一数据取样信号与一第二数据取样信号进行反互斥或运算而产生一第一输出,每一所述校验单元对该第二数据取样信号与该边缘取样信号中的一第一边缘取样信号进行互斥或运算而产生一第二输出,每一所述校验单元对该第一输出与该第二输出进行及运算,据此产生所述多个校验结果。
2.根据权利要求1所述的失锁侦测装置,其特征在于,每一所述校验单元包含:
一与门,电性连接至该累加器;
一反互斥或门,电性连接至该与门,用以接收该数据取样信号中的该第一数据取样信号与该第二数据取样信号;以及
一互斥或门,电性连接至该与门,用以接收该数据取样信号中的该第二数据取样信号与该边缘取样信号中的该第一边缘取样信号,其中该互斥或门并联于该反互斥或门。
3.根据权利要求2所述的失锁侦测装置,其特征在于,该计数值为一非负整数,当该计数值大于该门槛值时,该失锁侦测装置判定失锁发生;当该计数值小于或等于该门槛值时,该失锁侦测装置判定失锁未发生。
4.根据权利要求1所述的失锁侦测装置,其特征在于,还包含:
一抹除器,电性连接至该比较器,用以抹除该比较器所产生的该失锁侦测结果。
5.一种失锁侦测方法,其特征在于,包含:
接收一数据取样信号与一边缘取样信号;
依据该数据取样信号与该边缘取样信号而进行校验,据以产生多个校验结果;
依据所述多个校验结果而进行计数,据以产生一计数值;以及
将该计数值与一门槛值进行比较而产生一失锁侦测结果;
其中依据该数据取样信号与该边缘取样信号而进行校验,据以产生所述多个校验结果包含:
撷取该数据取样信号中的一第一数据取样信号与一第二数据取样信号以及该边缘取样信号中的一第一边缘取样信号;
依据该第一数据取样信号、该第一边缘取样信号以及该第二数据取样信号而产生一第一输出与一第二输出;以及
依据该第一输出与该第二输出而产生所述多个校验结果。
6.根据权利要求5所述的失锁侦测方法,其特征在于,依据该数据取样信号与该边缘取样信号而进行校验,据以产生所述多个校验结果还包含:
对该第一数据取样信号与该第二数据取样信号进行反互斥或运算,据以产生该第一输出;
对该第二数据取样信号与该第一边缘取样信号进行互斥或运算,据以产生该第二输出;以及
对该第一输出与该第二输出进行及运算,据此产生所述多个校验结果。
7.根据权利要求6所述的失锁侦测方法,其特征在于,将该计数值与该门槛值进行比较而产生该失锁侦测结果包含:
当该计数值大于该门槛值时,判定失锁发生;当该计数值小于或等于该门槛值时,判定失锁未发生,其中该计数值为一非负整数。
8.根据权利要求5所述的失锁侦测方法,其特征在于,还包含:
于该失锁侦测结果产生后,若判定失锁未发生则抹除该失锁侦测结果。
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