[发明专利]一种电路网络参数的探测装置及其探测方法在审
申请号: | 201610556831.6 | 申请日: | 2016-07-14 |
公开(公告)号: | CN107621577A | 公开(公告)日: | 2018-01-23 |
发明(设计)人: | 孙涵;张利 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/28 | 分类号: | G01R27/28 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人: | 姚开丽,王军红 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电路 网络 参数 探测 装置 及其 方法 | ||
1.一种电路网络参数的探测装置,其特征在于,所述装置包括:同轴SMA插座、转接部和探头基片,其中,
所述同轴超小型A型SMA插座具有导体突出的一端与所述转接部连接,所述导体通过所述转接部与所述探头基片内的微带线的一端连接,所述微带线的另一端用于接入待测电路。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述微带线的宽度与所述待测电路的待测微带线的宽度相同。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述转接部设置有转接孔,相应的,所述导体穿过所述转接孔与所述探头基片的微带线的一端连接。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述同轴SMA插座包括SMA接头,所述SMA接头用于与矢量网络连接。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述同轴SMA插座包括第一连接部,所述第一连接部上设置有连接孔,其中,所述导体突出于所述第一连接部。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述转接部包括与第一连接部相同的第二连接部,所述第二连接部上设置有与所述第一连接部上的连接孔一一对应的连接孔。
7.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述转接部包括固定部,所述固定部包括宽度与所述探头基片的宽度一致的用于插入所述探头基片的固定槽,其中,所述转接孔位于所述固定槽的中心位置处。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述固定部的所述固定槽的两侧中的至少一侧设置有顶丝孔,所述顶丝孔用于插入固定所述探头基片的顶丝。
9.根据所述权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括具有微带线的校准基片,所述校准基片至少包括以下其中之一:
具有直通校准微带线的直通校准基片;
具有反射校准微带线的反射校准基片;
具有延长校准微带线的延长校准基片。
10.根据所述权利要求1至9中任一项所述的装置,其特征在于,所述微带线包括线型微带线或渐变型微带线。
11.一种网络参数的探测方法,其特征在于,通过如权利要求1至10任一项所述的电路网络参数的探测装置探测待测电路的网络参数。
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