[发明专利]一步法湿法黑硅制备以及表面处理方法有效
申请号: | 201610595316.9 | 申请日: | 2016-07-26 |
公开(公告)号: | CN106024988B | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 韩庚欣;丁晓辉;韩冰;徐涛 | 申请(专利权)人: | 南京科乃迪科环保科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;C30B33/10 |
代理公司: | 南京苏创专利代理事务所(普通合伙)32273 | 代理人: | 沈振涛 |
地址: | 210000 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一步法 湿法 制备 以及 表面 处理 方法 | ||
1.一步法湿法黑硅制备以及表面处理方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)将去除表面损伤层后的硅片浸入腐蚀液中反应制得黑硅;所述腐蚀液为含金属离子的浓氢氟酸、氧化剂和高分子聚合物的混合水溶液;所述高分子聚合物为聚丙烯酸、聚乙烯吡咯烷酮、聚D,L-乳酸中的一种或几种的组合;所述高分子聚合物的分子量为5000-20000;腐蚀液中,所述高分子聚合物的浓度为5-35 ppm;
(2)将步骤(1)制得的黑硅浸入表面处理腐蚀液中进行表面优化处理,即得亚微米结构的均匀绒面的硅片;其中,所述表面处理腐蚀液为含添加剂的混合酸水溶液;所述添加剂为流平剂;所述流平剂选自丙烯酸共聚物、氟改性丙烯酸共聚物、改性丙烯酸共聚物、聚醚改性聚二甲基矽氧烷、丙烯酸酯聚二甲基矽氧烷共聚物、聚二甲基矽氧烷的一种或几种的组合;所述添加剂的添加量为混合酸水溶液质量的1-3%;所述添加剂的分子量为1200-20000。
2.根据权利要求1所述的一步法湿法黑硅制备以及表面处理方法,其特征在于:步骤(1)中,金属离子为金离子、银离子、铂离子、钯离子、铜离子、镍离子和钴离子的任意两种的组合;腐蚀液中,金属离子溶液的浓度为0.00001–0.05mol/L。
3.根据权利要求1所述的一步法湿法黑硅制备以及表面处理方法,其特征在于:步骤(1)中,所述氧化剂选自H2O2、O3、CO2、K2Cr2O7、CrO3、KIO3、KBrO3、NaNO3、HNO3、KMnO4中的一种或几种的组合;所述氧化剂、浓氢氟酸和水的摩尔比为(1-3):(3-7):(12-19)。
4.根据权利要求1所述的一步法湿法黑硅制备以及表面处理方法,其特征在于:步骤(1)中,反应时间为15-300秒,反应温度为10-50℃;制得的黑硅在波长350-110纳米之间反射率在3.5%以下。
5.根据权利要求1所述的一步法湿法黑硅制备以及表面处理方法,其特征在于:步骤(2)中,所述混合酸水溶液为体积比1:2:7-1:9:20的浓氢氟酸、浓硝酸和水的混合。
6.根据权利要求1所述的一步法湿法黑硅制备以及表面处理方法,其特征在于:步骤(2)中,表面优化处理时间为45-300秒,反应温度为10-50oC。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的