[发明专利]应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷及其制备方法有效
申请号: | 201610603222.1 | 申请日: | 2016-07-27 |
公开(公告)号: | CN107663080B | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 杨鹏远;朱煜;徐登峰;许岩;侯占杰;成荣;雷忠兴;韩玮琦;王建冲;唐娜娜 | 申请(专利权)人: | 北京华卓精科科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;C04B35/10;C04B35/622;B28B1/29 |
代理公司: | 北京头头知识产权代理有限公司 11729 | 代理人: | 刘锋 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应用于 静电 卡盘 氧化铝陶瓷 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了一种应用于J‑R型静电卡盘的氧化铝陶瓷及其制备方法,属于半导体材料领域。所述氧化铝陶瓷材料由以下重量份的组分组成:α‑氧化铝82‑88%、二氧化钛7‑10%、氧化镁0.5‑2%、二氧化硅2‑5.5%。上述氧化铝陶瓷的制备方法采用流延成型工艺,得到的氧化铝陶瓷材料体积电阻率在100‑1000V电压范围内能控制在109‑1011Ω·cm之间,可以作为理想的J‑R型静电卡盘的介电材料。
技术领域
本发明涉及半导体材料领域,特别是指一种应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷及其制备方法。
背景技术
根据吸附力产生原理的不同,静电卡盘可分为库伦型(Coulomb Force)和迥斯热背型(Johnsen-Rahbek effect,简称J-R型)两类。在库伦型静电卡盘装置中,对介电层材料的体积电阻率一般要求在1014Ω·cm以上,但对于J-R型静电卡盘来说,相比库伦性静电卡盘,需要介电层能够适当降低体积电阻率,使体积电阻率控制在一定范围,来满足其电学性能要求。
氧化铝陶瓷因其优异的介电性能,常作为静电卡盘领域中的介电层材料。通过过渡金属氧化物的掺杂,选择合适的助溶剂,与Al2O3形成新相或固溶体,可以有效降低氧化铝陶瓷的体积电阻率,通过调整配方可以实现对体积电阻率的调控,以满足其作为J-R型静电卡盘介电层材料的电学性能要求。
目前存在一些氧化铝陶瓷材料的制备,对氧化铝的介电性能并未进行更多探索,主要集中在其抗弯强度或热膨胀等力学性能方面的研究。如中国专利文件CN105585313A公开了一种氧化铝陶瓷粉料、氧化铝陶瓷及其制备方法,提供一种氧化铝陶瓷粉料,按照质量百分含量包括如下组分:85%~95%的氧化铝粉、2%~6%的二氧化钛粉、2.5%~8%的氧化镁粉及0.5%~1.5%的纳米陶瓷粉体,其中,所述纳米陶瓷粉体为氧化铬粉或氮化硅粉,该粉料能够制备出具有较高抗弯强度的氧化铝陶瓷。但是该产品性能和制备方法对介电性能没有技术提示,也缺乏相关探索。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种体积电阻率在100-1000V电压范围内能控制在109-1011Ω·cm之间的氧化铝陶瓷及其制备方法。
为解决上述技术问题,本发明提供技术方案如下:
一种应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷,其特征在于,所述氧化铝陶瓷由以下重量份的组分组成:
进一步的,应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷,其特征在于,所述氧化铝陶瓷由以下重量份的组分组成:
上述应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1:将称取的二氧化钛、二氧化硅和氧化镁粉料混合均匀,然后将混合粉料在900-1100℃下进行预烧3.5-6小时,随炉冷却至常温,然后研磨至粒径为100-200目,得到第一混合粉料;
步骤2:将所述第一混合粉料与α-氧化铝混合均匀,然后研磨至粒径为150-350目,得到第二混合粉料;
步骤3:在所述第二混合粉料中加入有机溶剂和分散剂,进行第一次球磨搅拌;然后加入粘结剂和增塑剂进行第二次球磨搅拌,得到混合浆料;
步骤4:将所述混合浆料在流延机上进行流延,流延结束后将得到的厚度为0.1-1.0mm的流延片进行排胶处理后放入烧结炉在1000-1350℃下烧结2-5.5小时。
进一步的,所述应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷的制备方法,其特征在于,所述步骤1中预烧的温度为950-1050℃,预烧的时间为3.5-4小时。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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