[发明专利]应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610603222.1 申请日: 2016-07-27
公开(公告)号: CN107663080B 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 杨鹏远;朱煜;徐登峰;许岩;侯占杰;成荣;雷忠兴;韩玮琦;王建冲;唐娜娜 申请(专利权)人: 北京华卓精科科技股份有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;C04B35/10;C04B35/622;B28B1/29
代理公司: 北京头头知识产权代理有限公司 11729 代理人: 刘锋
地址: 100084 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 应用于 静电 卡盘 氧化铝陶瓷 及其 制备 方法
【说明书】:

本发明公开了一种应用于J‑R型静电卡盘的氧化铝陶瓷及其制备方法,属于半导体材料领域。所述氧化铝陶瓷材料由以下重量份的组分组成:α‑氧化铝82‑88%、二氧化钛7‑10%、氧化镁0.5‑2%、二氧化硅2‑5.5%。上述氧化铝陶瓷的制备方法采用流延成型工艺,得到的氧化铝陶瓷材料体积电阻率在100‑1000V电压范围内能控制在109‑1011Ω·cm之间,可以作为理想的J‑R型静电卡盘的介电材料。

技术领域

本发明涉及半导体材料领域,特别是指一种应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷及其制备方法。

背景技术

根据吸附力产生原理的不同,静电卡盘可分为库伦型(Coulomb Force)和迥斯热背型(Johnsen-Rahbek effect,简称J-R型)两类。在库伦型静电卡盘装置中,对介电层材料的体积电阻率一般要求在1014Ω·cm以上,但对于J-R型静电卡盘来说,相比库伦性静电卡盘,需要介电层能够适当降低体积电阻率,使体积电阻率控制在一定范围,来满足其电学性能要求。

氧化铝陶瓷因其优异的介电性能,常作为静电卡盘领域中的介电层材料。通过过渡金属氧化物的掺杂,选择合适的助溶剂,与Al2O3形成新相或固溶体,可以有效降低氧化铝陶瓷的体积电阻率,通过调整配方可以实现对体积电阻率的调控,以满足其作为J-R型静电卡盘介电层材料的电学性能要求。

目前存在一些氧化铝陶瓷材料的制备,对氧化铝的介电性能并未进行更多探索,主要集中在其抗弯强度或热膨胀等力学性能方面的研究。如中国专利文件CN105585313A公开了一种氧化铝陶瓷粉料、氧化铝陶瓷及其制备方法,提供一种氧化铝陶瓷粉料,按照质量百分含量包括如下组分:85%~95%的氧化铝粉、2%~6%的二氧化钛粉、2.5%~8%的氧化镁粉及0.5%~1.5%的纳米陶瓷粉体,其中,所述纳米陶瓷粉体为氧化铬粉或氮化硅粉,该粉料能够制备出具有较高抗弯强度的氧化铝陶瓷。但是该产品性能和制备方法对介电性能没有技术提示,也缺乏相关探索。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种体积电阻率在100-1000V电压范围内能控制在109-1011Ω·cm之间的氧化铝陶瓷及其制备方法。

为解决上述技术问题,本发明提供技术方案如下:

一种应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷,其特征在于,所述氧化铝陶瓷由以下重量份的组分组成:

进一步的,应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷,其特征在于,所述氧化铝陶瓷由以下重量份的组分组成:

上述应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:将称取的二氧化钛、二氧化硅和氧化镁粉料混合均匀,然后将混合粉料在900-1100℃下进行预烧3.5-6小时,随炉冷却至常温,然后研磨至粒径为100-200目,得到第一混合粉料;

步骤2:将所述第一混合粉料与α-氧化铝混合均匀,然后研磨至粒径为150-350目,得到第二混合粉料;

步骤3:在所述第二混合粉料中加入有机溶剂和分散剂,进行第一次球磨搅拌;然后加入粘结剂和增塑剂进行第二次球磨搅拌,得到混合浆料;

步骤4:将所述混合浆料在流延机上进行流延,流延结束后将得到的厚度为0.1-1.0mm的流延片进行排胶处理后放入烧结炉在1000-1350℃下烧结2-5.5小时。

进一步的,所述应用于J-R型静电卡盘的氧化铝陶瓷的制备方法,其特征在于,所述步骤1中预烧的温度为950-1050℃,预烧的时间为3.5-4小时。

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