[发明专利]含盐储层样品的制备及评价方法

说明书

技术领域

本发明涉及油气开采领域，尤其涉及一种含盐储层样品的制备及评价方法。

背景技术

在油气开采中，储层是一种存储油气的多孔介质。储层的许多宏观性质(如孔隙度、渗透率、毛管压力等)取决于它的微观结构和组成它的固体及其孔隙空间中填充物和流体的物理性质。

现有技术中，储层矿物及孔隙结构等特征的表征通常采用薄片鉴定法，该鉴定方法首先需要将储层或岩石样品制备成薄片，随后在偏光显微镜下观察矿物的成分及结构等特征。为了获得理想的显微镜观测效果，该制备方式往往将储层样品制备成厚度为0.03毫米的薄片。

但是，在制备薄片样品过程中，常使用以水为介质的研磨抛光机进行储层样品的切割、打磨和抛光，该过程需要用水为切片或研磨片降温，而水极易对含盐储层样品造成严重破坏，会使含盐储层中的岩盐、氯化钠、氯化钾等常见物质从样品中溶解出来，不利于后续储层样品中盐类信息的观测，造成盐类信息缺失，甚至导致在储层孔隙评价过程中出现严重的错误。

发明内容

本发明提供一种含盐储层样品的制备及评价方法，以解决现有技术中在制备含盐储层样品的过程中，含盐储层样品与水接触，致使含盐储层中的岩盐、氯化钠、氯化钾等常见物质从样品中溶解出来，造成盐类信息缺失，导致在储层孔隙评价过程中出现严重的错误的问题。

本发明提供的含盐储层样品的制备方法，包括：采用无水介质切割机将储层样品切割为试样，试样具有平整的第一表面和第二表面；

将试样的第一表面粘结在导电基底上；

将试样的第二表面进行清洁抛光处理；

在清洁抛光处理后的试样的第二表面上设置导电层；

将导电层与导电基底电连接。

本发明提供的含盐储层样品的制备方法，包括：采用无水介质切割机将储层样品切割为试样，试样具有平整的第一表面和第二表面；将试样的第一表面粘结在导电基底上；将试样的第二表面进行清洁抛光处理；在清洁抛光处理后的试样的第二表面上设置导电层；将导电层与导电基底电连接。本发明通过采用无水介质切割机将储层样品进行切割为试样，并将试样的第一表面粘接在导电基底上，再在第二表面上设置导电层，最后将导电基底和导电层连接，以获得合格的含盐储层样品，由于制备样品的整个过程中储层样品都没有与水接触，从而避免了水对含盐样品中物质组成的破坏，确保了储层样品中盐类信息观测结果的准确性，提高了含盐储层孔隙评价的精确度。

另一方面，本发明还提供一种含盐储层样品的评价方法，适用于上述含盐储层样品制备方法中获得的含盐储层样品，该方法包括：

采用光学显微镜选定并标记含盐区块；

在扫描电镜下获取标记含盐区块中盐的图像；

采用能谱仪鉴定标记含盐区块中盐类矿物的元素组成；

根据标记含盐区块中盐的图像内包含的亮度信息和标记含盐区块中盐类矿物的元素组成提取标记含盐区块中盐的分布规律及计算百分含量。

本发明提供的含盐储层样品的评价方法，包括：采用光学显微镜选定并标记含盐区块；在扫描电镜下获取标记含盐区块中盐的图像；采用能谱仪鉴定标记含盐区块中盐类矿物的元素组成；提取标记含盐区块中盐的分布规律及计算百分含量。本发明通过采用光学显微镜获取标记区域内中的盐的图像，并利用能谱仪鉴定盐类矿物的元素组成，最后获得含盐区块中盐的分布规律和百分含量，该方法适用于上述含盐储层样品制备方法中获得的含盐储层样品，能够更加准确的获得含盐储层样品中的盐类分布规律和百分含量，更有利于对含盐储层孔隙进行准确评价。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的含盐储层样品的制备方法的流程示意图；

图2为本发明实施例一提供的含盐储层样品的制备方法中将试样的第二表面进行清洁抛光处理的流程示意图；

图3为本发明实施例二提供的含盐储层样品的评价方法的流程示意图。

具体实施方式