[发明专利]碳纳米管的品质评价方法有效

专利信息
申请号: 201610685596.2 申请日: 2016-08-18
公开(公告)号: CN106468680B 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 崔贤澈;权容卓;金玉允 申请(专利权)人: SK新技术株式会社;SK综合化学株式会社
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王朋飞;李新娜
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 纳米 品质 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种碳纳米管的品质评价方法,其特征在于,包括以下步骤:

(a)混合常用的多个碳纳米管、溶剂及表面活性剂,以准备多个碳纳米管悬浮液,并对所述多个碳纳米管悬浮液分别以不同的时间照射超声波;

(b)分别对所述多个碳纳米管悬浮液进行过滤并干燥,从而获得干燥的碳纳米管;以及

(c)测定所述干燥的碳纳米管各自的面电阻,并算出测定的面电阻的平均值;

对所述多个碳纳米管悬浮液各自的超声波照射时间之间具有10秒钟以上且小于10分钟的差异,

所述步骤(c)中算出的面电阻的平均值越小,评价碳纳米管的分散性和导电率越优异。

2.根据权利要求1所述的碳纳米管的品质评价方法,其特征在于,在5KHz至200KHz的频率范围照射所述超声波。

3.根据权利要求1所述的碳纳米管的品质评价方法,其特征在于,在所述步骤(a)中,利用变幅杆式或槽式来照射超声波。

4.根据权利要求1所述的碳纳米管的品质评价方法,其特征在于,利用真空过滤法来实施所述步骤(b)。

5.根据权利要求1所述的碳纳米管的品质评价方法,其特征在于,在所述步骤(c)中,利用四探针面电阻测定方式来测定所述面电阻。

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