[发明专利]一种同位素脉冲标定石墨烯生长速度的方法有效

专利信息
申请号: 201610719183.1 申请日: 2016-08-24
公开(公告)号: CN107782709B 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 刘忠范;彭海琳;孙禄钊;林立 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100871 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 同位素 脉冲 标定 石墨 生长 速度 方法
【权利要求书】:

1.一种标定石墨烯生长速度的方法,包括如下步骤:

1)将基底依次进行升温和退火后,在还原性气体和12C碳源气体中,进行石墨烯的生长,生长完毕后降温切断气源,得到石墨烯;

其特征在于:所述石墨烯的生长步骤中,以脉冲形式通入13C碳源气体;

在所述步骤1)之后,还包括如下步骤2):

2)对所得石墨烯中13C的空间分布进行检测和统计,并与脉冲的通入时间对应,得到所述石墨烯的生长速度;

所述13C碳源气体的流量占所述12C碳源气体和13C碳源气体总流量的5%-50%;

脉冲持续的时间为3s–3min。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述12C碳源气体选自甲烷、乙烷、甲醇、乙醇和乙腈中的至少一种;

所述13C碳源气体为13C标记的所述12C碳源气体。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤2)检测步骤中,检测方法为利用拉曼成像系统进行线扫描或面扫描。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述统计步骤中,统计对象为每个含13C石墨烯特征峰的峰位和峰强的空间分布;

所述石墨烯特征峰包括D峰、G峰和2D峰。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤1)中,基底为铜箔;

所述基底的厚度为20μm-100μm。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于:所述基底的厚度为25μm。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤1)升温步骤在惰性气体或氩气气氛中进行;

惰性气体的流量为100sccm-1000sccm;

由室温升温至退火温度的时间为20-40min。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于:所述惰性气体的流量为500sccm;

由室温升温至退火温度的时间为30min。

9.根据权利要求1-8中任一所述的方法,其特征在于:所述步骤1)退火为先在极微量氧气中退火,再在还原性气氛或氢气中退火。

10.根据权利要求1-9中任一所述的方法,其特征在于:所述石墨烯的生长步骤中,生长温度为950℃-1040℃;

所述还原性气体为氢气;

所述还原性气体的流量为10sccm-1000sccm;

体系的压强为10 Pa–1000 Pa。

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于:所述石墨烯的生长步骤中,生长温度为1020℃;

所述还原性气体的流量为400-500sccm;

体系的压强为500Pa。

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