[发明专利]用于确定介质电导率的方法有效
申请号: | 201610806419.5 | 申请日: | 2016-08-19 |
公开(公告)号: | CN106468736B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 斯特凡·保罗;埃里克·明茨 | 申请(专利权)人: | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 戚传江;金洁 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电导率传感器 参考测量 参考电路 测量 电导率 介质电导率 导出 导电 校正 | ||
1.一种使用导电电导率传感器来确定介质的电导率的方法,包括:
使用被集成在所述电导率传感器内的测量电路,在第一测量范围内确定所述电导率传感器的测量值;
使用被集成在所述电导率传感器内的参考电路,在所述第一测量范围内的确定参考测量值;
使用被集成在所述电导率传感器内的所述参考电路,在第二测量范围内确定参考测量值;
在所述第一测量范围内从所述参考测量值导出第一调整值;
在所述第二测量范围内从所述参考测量值导出第二调整值;
使用所述第一调整值校正所述电导率传感器的所述测量值;以及
使用经校正的测量值确定所述介质的所述导电率。
2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:在所述在第一测量范围内确定所述电导率传感器的测量值与所述在所述第一测量范围内确定参考测量值之间以时间控制的方式进行交替。
3.根据权利要求2所述的方法,进一步包括:在所述第一测量范围内确定所述电导率传感器的两个测量值,以及随后在所述第一测量范围内确定一个参考测量值。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述在所述第一测量范围内确定参考测量值比所述在第二测量范围内确定参考测量值更加频繁地执行。
5.根据权利要求1或2所述的方法,进一步包括:
选择所述电导率传感器的所述第二测量范围;
使用所述测量电路在第二测量范围内确定第二测量值;
使用所述第二调整值校正所述电导率传感器的所述第二测量值;以及
在所述第二测量范围内使用经校正的第二测量值确定所述介质的所述电导率。
6.根据权利要求1或2所述的方法,其中,选择所述第二测量范围包括:选择所述测量电路的放大器电路的可选择电阻器的第二电阻。
7.根据权利要求1或2所述的方法,进一步包括:
使用被集成在所述电导率传感器内的所述参考电路,在第三测量范围内确定参考测量值;以及
在所述第三测量范围内从所述参考测量值导出第三调整值。
8.根据权利要求7所述的方法,进一步包括:
选择所述电导率传感器的所述第三测量范围;
使用所述测量电路在第三测量范围内确定第三测量值;
使用所述第三调整值校正所述电导率传感器的所述第三测量值;以及
使用经校正的第三测量值在所述第三测量范围内确定所述介质的所述电导率。
9.根据权利要求8所述的方法,其中,选择所述第三测量范围包括:选择所述测量电路的放大器电路的可选择电阻器的第三电阻。
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