[发明专利]用于确定介质电导率的方法

说明书

本发明涉及用于通过导电电导率传感器来确定介质的电导率的方法，所述方法包括以下步骤：确定所述电导率传感器的测量值，确定被集成在所述电导率传感器内的参考电路的参考测量值，从所述参考电路的所述参考测量值导出至少一个调整值，通过所述至少一个调整值校正所述电导率传感器的所述测量值。

技术领域

本发明涉及用于通过导电电导率传感器来确定介质的电导率的方法。

背景技术

一种用于测量介质的电导率的测量电路，该测量基于对介质的电阻测量以及利用因子的随后的计算，该因子被称作电导池常数并且源于电导率传感器的几何结构。通常，在生产期间对电导率传感器的测量电路进行调整。在该过程中确定了误差，诸如放大和零点误差，并且如果存在任何校正值，则校正值被保存在非易失性存储器中。这样的调整通常发生在室温下，因为在调整期间很难实现温度上的变化。这样的电导率传感器在许多年期间运行在客户处并且在该处被暴露在各种环境条件下，诸如湿度和温度起伏。

测量电路的校正值在所限定的环境条件——诸如温度占据主导(prevail)的时间点上被确定的。由于测量电路以例如环氧树脂来模塑、温度波动、或者经长期运行而老化，测量电路的测量链上能够出现偏差。这些偏差可能会降低电导率传感器的额定测量精度。

发明内容

本发明是基于指定用于通过具有高测量精度的导电电导率传感器来确定介质的电导率的方法的任务。

该目的通过本发明的主题来达到。本发明的主题是一种通过导电电导率传感器来确定介质的电导率的方法，所述方法包括以下步骤：确定所述电导率传感器的测量值，确定被集成在所述电导率传感器内的参考电路的参考测量值，从所述参考电路的所述参考测量值导出至少一个调整值，通过所述至少一个调整值校正所述电导率传感器的所述测量值。

根据本发明的方案的优点在于将所述参考电路集成到所述电导率传感器(板上(on-board)调整)中以用于自动调整。利用合适的算法和时序，之后有可能在测量操作期间调整所述电导率传感器，以确定校正值并且一直确保最优测量性能。板上调整的另一个优点是对特定电路组件的故障诊断。这可以通过将所确定的调整值与用于调整的理论理想值来进行比较来实现。如果所确定的校正值偏离所述理想值太多，则所述电导率传感器存在故障，并且上级系统可相应地作出反应。

根据一个有利的发展，在所述电导率传感器的测量值的确定与所述参考电路的参考测量值的确定之间进行时间控制的交替。

由于电导率传感器的周期性调整，故障组件的中期变化可以被确定和调整。例如，由此能够调整温度随时间对电阻和其它组件的影响。

根据一个有利的变型，所述电导率传感器的两个测量值被确定以及所述参考电路的一个参考测量值随后被确定。

根据一个有利的实施例，所述电导率传感器包括具有至少两个测量范围的电子组件，其中，在测量期间，在活动(active)测量范围中作出的调整比另外的(一个或多个)测量范围中的更加频繁。

由于所述电子组件具有多个测量范围，因此为了在该处确保最高精度和最佳性能，更加频繁地调整当前活动的测量范围是有利的。然而，如果忽略了其它测量范围，则在较长时间段内会出现误差。特别地，当测量范围处于活动时如果所述电子组件的温度发生变化，则会发生这种情况。如果在此时出现向不同测量范围的更改，则所述调整值当前将不再处于这个范围内，并且会确定出错误的测量值。在一定时间段后，该误差将会最小化，因为其它的测量范围也被调整。

附图说明

将基于附图来详细解释本发明。所述附图示出了：

图1：用于测量电导率的具有集成的参考电路的测量电路，

图2：介质以及调整测量的序列图，以及

图3：在各个测量范围内的介质及调整测量的序列图。