[发明专利]本振泄漏自动校准方法及装置在审
| 申请号： | 201610819518.7 | 申请日： | 2016-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN107819712A | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | 郑国强;许亮;鲁维民;宋春辉 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L25/06 | 分类号： | H04L25/06;H04B1/04 |
| 代理公司： | 广东广和律师事务所44298 | 代理人： | 章小燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 泄漏 自动 校准 方法 装置 | ||
1.一种本振泄漏自动校准方法，该方法包括步骤：
为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)2，其中n为正整数；
获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；
根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；
根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。
2.根据权利要求1所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，所述N组配置值(x，y)从频谱仪中获取。
3.根据权利要求1所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，所述根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)的步骤具体包括：
以第一预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值；
将每一组配置值代入所述拟合多项式中，计算出对应的本振功率值z；
从计算出的所有本振功率值z中获得最小值；
得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。
4.根据权利要求1所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，该方法还包括步骤：
在所述配置值(X1，Y1)附近的预定范围内以第二预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值，从频谱仪中读取对应的本振功率值，得到本振功率值最小时对应的所述IQ寄存器的配置值(X2，Y2)，作为最终的校准结果。
5.根据权利要求4所述的本振泄漏自动校准方法，其特征在于，所述第一预定步进和/或所述第二预定步进为最小步进。
6.一种本振泄漏自动校准装置，该装置连接于发射机和频谱仪，用于配置所述发射机的IQ寄存器，该装置包括：
设置模块，用于为所述IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)2，其中n为正整数；
读取模块，用于获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；
计算模块，用于根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；
拟合模块，用于根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。
7.根据权利要求6所述的本振泄漏自动校准装置，其特征在于，所述读取模块通过从所述频谱仪中读取数据来获取所述N组配置值(x，y)。
8.根据权利要求6所述的本振泄漏自动校准装置，其特征在于，所述拟合模块得到所述配置值(X1，Y1)的过程具体包括：
以第一预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值；
将每一组配置值代入所述拟合多项式中，计算出对应的本振功率值z；
从计算出的所有本振功率值z中获得最小值；
得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X1，Y1)。
9.根据权利要求6所述的本振泄漏自动校准装置，其特征在于，该装置还包括：
校准模块，用于在所述配置值(X1，Y1)附近的预定范围内以第二预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值，从所述频谱仪中读取对应的本振功率值，得到本振功率值最小时对应的所述IQ寄存器的配置值(X2，Y2)，作为最终的校准结果。
10.根据权利要求9所述的本振泄漏自动校准装置，其特征在于，所述第一预定步进和/或所述第二预定步进为最小步进。
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