[发明专利]本振泄漏自动校准方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及通讯技术领域，尤其涉及本振泄漏自动校准方法及装置。

背景技术

在发射机架构中，正交调制信号和本振信号总是存在幅度和相位的不平衡及直流偏移误差，本振泄露是不可避免的。本振泄漏会带来不同程度的负面影响，在宽带射频单元中，本振泄漏会与载波信号产生互调，直接恶化发射信号SNR(Signal-Noise Ratio，信噪比)，影响EVM(Error Vector Magnitude，误差向量幅度)。因此，单板在出厂前需要将本振泄露校准到一个合理的范围，保证达到发射机的指标。

现有校准装置需要额外增加硬件设备，提高了实现成本，校准方案中采取抽样或者遍历本振泄漏补偿值的方法，无法获得较高的精度和效率。

例如，假设发射机I路与Q路寄存器取值范围为[-2000，2000]，以步进50进行遍历，寻找相对比较低的本振功率点，总共需要遍历6400次。并且每次遍历均需一定的时间后，才能获取稳定的本振功率值。由此可见，全局范围及较小步进的遍历会严重影响校准效率。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种本振泄漏自动校准方法及装置，以解决在不增加额外硬件成本的基础上，如何精确有效地获得本振泄漏校准结果的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种本振泄漏自动校准方法，该方法包括步骤：为IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)²，其中n为正整数；获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X₁，Y₁)。

可选地，所述N组配置值(x，y)从频谱仪中获取。

可选地，所述根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X₁，Y₁)的步骤具体包括：以第一预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值；将每一组配置值代入所述拟合多项式中，计算出对应的本振功率值z；从计算出的所有本振功率值z中获得最小值；得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X₁，Y₁)。

可选地，该方法还包括步骤：在所述配置值(X₁，Y₁)附近的预定范围内以第二预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值，从频谱仪中读取对应的本振功率值，得到本振功率值最小时对应的所述IQ寄存器的配置值(X₂，Y₂)，作为最终的校准结果。

可选地，所述第一预定步进和/或所述第二预定步进为最小步进。

为实现上述目的，本发明还提出一种本振泄漏自动校准装置，该装置连接于发射机和频谱仪，用于配置所述发射机的IQ寄存器，该装置包括：设置模块，用于为所述IQ寄存器设置N组不同的配置值(x，y)，所述N的取值为(n+1)²，其中n为正整数；读取模块，用于获取所述N组配置值(x，y)对应的N个本振功率值z；计算模块，用于根据所述N组配置值(x，y)和对应的N个本振功率值z，确定出包含N个系数的拟合多项式，所述拟合多项式为二元高阶多项式，所述n为所述二元高阶多项式中的最高次数；拟合模块，用于根据所述拟合多项式，计算本振功率最小值，并得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X₁，Y₁)。

可选地，所述读取模块通过从所述频谱仪中读取数据来获取所述N组配置值(x，y)。

可选地，所述拟合模块得到所述配置值(X₁，Y₁)的过程具体包括：以第一预定步进遍历所述IQ寄存器的配置值；将每一组配置值代入所述拟合多项式中，计算出对应的本振功率值z；从计算出的所有本振功率值z中获得最小值；得到所述最小值对应的所述IQ寄存器的配置值(X₁，Y₁)。