[发明专利]一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路在审
| 申请号： | 201610831876.X | 申请日： | 2016-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN106645955A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 徐月文 | 申请（专利权）人： | 青岛时创智能技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266000 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 继电器 触点 阻抗 测试 电路 | ||
1.一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的基于单片机微电阻测量系统包括被测电阻、被测电阻连接点M、被测电阻连接点N、导线LI、导线LII、导线LIII、导线LIV、精密恒流源、放大模块、信号处理模块、A/D转换模块、MCU控制模块、显示模块；所述的被测电阻一端设置有被测电阻连接点M，被测电阻连接点M上连接有导线LI、导线LII，被测电阻另一端设置有被测电阻连接点N，被测电阻连接点N上连接有导线LIII、导线LIV；所述的精密恒流源通过被测电阻连接点M、被测电阻连接点N与被测电阻相连，被测电阻连接点M、被测电阻连接点N同时与具有信号放大功能的放大模块相连，放大模块与具有信号处理功能的信号处理模块相连，信号处理模块与具有模数转换功能的A/D转换模块相连，A/D转换模块与具有信号采集功能的MCU控制模块相连，MCU控制模块与具有显示功能的显示模块相连。
2.根据权利要求1所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：一种继电器触点超低阻抗的测试电路还包括有源低通滤波器，有源低通滤波器一端与被测电阻连接，另一端与A/D转换模块相连。
3.根据权利要求1所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的精密恒流源内设置斩波稳零运放ICL7650。
4.根据权利要求1所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的精密恒流源内电阻采用MnCu丝电阻。
5.根据权利要求1所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的信号处理模块内设置单片机，型号为R5F212A7。
6.根据权利要求1所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的放大模块采用DC放大器，DC放大器输入阻抗大于1乘1010欧姆，灵敏度高于0.1UV。
7.根据权利要求1所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的A/D转换模块的芯片为MAX197。
8.根据权利要求1所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的基于单片机微电阻测量系统还设置有反馈网络，反馈网络与放大模块、信号处理模块相连。
9.根据权利要求8所述的一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，其特征在于：所述的反馈网络内设置的电阻为线绕电阻。
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