[发明专利]一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路

说明书

技术领域

本发明属于电子技术领域，具体地说，涉及一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路。

背景技术

在工程实践中，常需要测定某些高导电材料的电阻率。在科学研究中，也经常把电阻率当成一种对材料的结构和物质形态变化进行检测的手段。但是有些高导电材料的电阻很小，采用实验室一般仪器，在很多情况下无法测量，而市场上的电阻测量价格又非常昂贵。

因此，有必要提出一种价廉物美、经济适用的电阻率测量装置。

发明内容

为了克服背景技术中存在的问题，本发明提供一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，通过采用微处理器R5F212A7的智能化微电阻测量系统，实现了对一些高导电材料电阻率的测量，避免了必须在实验室测量受到的地域限制，同时又避免了购买昂贵的微电阻测量仪，既节约了时间和人力又降低了成本。

为了实现上述目的，本发明是按照以下技术方案实施的:所述的基于单片机微电阻测量系统包括被测电阻、被测电阻连接点M、被测电阻连接点N、导线LI、导线LII、导线LIII、导线LIV、精密恒流源、放大模块、信号处理模块、A/D转换模块、MCU控制模块、显示模块；所述的被测电阻一端设置有被测电阻连接点M，被测电阻连接点M上连接有导线LI、导线LII，被测电阻另一端设置有被测电阻连接点N，被测电阻连接点N上连接有导线LIII、导线LIV；所述的精密恒流源通过被测电阻连接点M、被测电阻连接点N与被测电阻相连，被测电阻连接点M、被测电阻连接点N同时与具有信号放大功能的放大模块相连，放大模块与具有信号处理功能的信号处理模块相连，信号处理模块与具有模数转换功能的A/D转换模块相连，A/D转换模块与具有信号采集功能的MCU控制模块相连，MCU控制模块与具有显示功能的显示模块相连。

一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路还包括有源低通滤波器，有源低通滤波器一端与被测电阻连接，另一端与A/D转换模块相连。

所述的精密恒流源内设置斩波稳零运放ICL7650。

所述的精密恒流源内电阻采用MnCu丝电阻。

所述的信号处理模块内设置单片机，型号为R5F212A7。

所述的放大模块采用DC放大器，DC放大器输入阻抗大于1乘10¹⁰欧姆，灵敏度高于0.1UV。

所述的A/D转换模块的芯片为MAX197。

所述的基于单片机微电阻测量系统还设置有反馈网络，反馈网络与放大模块、信号处理模块相连。

所述的反馈网络内设置的电阻为线绕电阻。

本发明的有益效果：

本发明通过采用微处理器R5F212A7的智能化微电阻测量系统，实现了对一些高导电材料电阻率的测量，避免了必须在实验室测量受到的地域限制，同时又避免了购买昂贵的微电阻测量仪，既节约了时间和人力又降低了成本。

附图说明

图1为本发明测量系统框图；

图2为恒流源电路图；

图3为四引线测量原理图。

图中，1-被测电阻、2-被测电阻连接点M、3-被测电阻连接点N、4-导线LI、5-导线LII、6-导线LIII、7-导线LIV、8-精密恒流源、9-放大模块、10-信号处理模块、11-A/D转换模块、12-MCU控制模块、13-显示模块。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和有益效果更加清楚，下面将结合附图，对本发明的优选实施例进行详细的说明，以方便技术人员理解。