[发明专利]用于校准和测试多个过热控制器的方法和设备

说明书

技术领域

本发明总体涉及过热控制器。特别地，本发明涉及用于同时校准和/或测试多个过热控制器内的压力传感器的改进的方法和设备。

背景技术

美国专利No.9,140,613公开了过热控制器(superheat controller，SHC)。该专利中公开的SHC是单一的、自成一体的(self-contained)、独立的装置，其包括所有传感器、电子器件和自动探测流体类型如制冷剂的智能，并且报告用于住宅、工业和科学应用的多个常见的流体类型的过热。美国专利No.9,140,613的全部内容通过引用并入本文。

本文的图5和6示出了已知的SHC 10，其与美国专利No.9,140,613公开的过热控制器类似。如图5和6所示，SHC 10示出的实施例包括具有本体14的壳体12、盖16和流体入口构件18。流体入口构件18可以通过安装环19固定到壳体12。安装环19通过螺纹连接将流体入口构件18附接至壳体12部分。可替代地，可以通过任意希望的方法将安装环19附接至流体入口构件18，如通过焊接或压力装配。在图5和6示出的实施例中，流体入口构件18是黄铜配件，具有限定密封表面20的中心形成的开口。当在常规的加热、通风、空调和制冷(HVAC-R)系统(未示出)中以已知的方式使用时，SHC 10的密封表面20可以接合HVAC-R系统中的连接器以限定金属对金属的密封。

已知的过热控制器包括作为其完整构件的压力传感器。例如，已知的SHC 10包括集成的压力和温度传感器22，压力和温度传感器22具有安装到印刷电路板(PCB)28的压力传感器部分24和温度传感器部分26。过热处理器30、数据报告或通信模块32和输入/输出(IO)模块34也安装到PCB 28。IO模块34是物理硬件接口，接收输入功率并且通过可用的硬连线接口如电线或电缆36将数据报告到过热处理器30。可以通过IO模块34连接到SHC 10的目标装置在图6中附图标记38处示意性地示出，并且可以包括额外的温度传感器、手提电脑和笔记本电脑、手机、存储卡，以及在线路测试设备的常规终端中或与其一起使用的任意装置。可替代地，目标装置38可以通过无线连接而连接到通信模块32。

过热处理器30被安装到PCB 28，并且是高分辨率、高准确性的装置，其处理分别来自集成的压力和温度传感器22的压力和温度传感器部分24和26的输入信号、探测流体类型、计算流体的过热，并且提供识别计算的过热水平的输出。过热处理器30还可以被配置为提供其它数据，如流体温度、流体压力、流体类型、保持在板载存储器中的相关历史日期(如警报和开断的历史)，以及其它所需的信息。有利地，过热处理器30在压力和温度通常的操作范围内在一次校准后保持高水平的准确性。合适的过热处理器的非限制示例包括微处理器、现场可编程门阵列(FPGA)和专用集成电路(ASIC)具有嵌入式和/或外置存储器和外围设备。

在已知的SHC 10中，压力传感器或换能器(transducer)如压力传感器部分24，可以在非校准状态下供给，并且因此必须校准SHC 10，如在常规的环境室内。对于SHC 10已知的校准程序要求使SHC 10稳定在两个不同的温度。在所述两个温度的每个中，校准程序必须在两个不同的压力完成并且存储。在两个温度的每个在两个压力完成校准后，SHC 10返回到验证温度，通常为室温，并且校准的准确性在多个压力点被验证，如五个压力点。

通常，使SHC 10稳定在两个校准温度的每个和在验证温度所需的时间为大约一个半小时(1.5小时)。虽然使SHC 10稳定在两个校准温度的每个和在验证温度所需的时间将随着使用的环境室的类型和特性变化，但是时间可以在大约1.0小时到大约2.0小时的范围内。执行校准程序和将结果存储在SHC 10中所需的时间可以是大约10分钟。因此，用于校准和验证所需的时间大部分用于使SHC 10到达和稳定在两个校准温度和在验证温度。例如，以已知的方式单独校准和验证25个SHC 10所需的时间大约为79小时。

因此，希望的是，提供一种用于同时校准多个过热控制器内的压力传感器的改进的方法和设备。

发明内容

本发明涉及用于同时校准和/或测试多个过热控制器内的压力传感器的改进的方法和设备。在一个实施例中，校准多个过热控制器的方法包括将多个过热控制器附接至歧管组件、将歧管组件包围在环境室内、以及同时校准多个过热控制器中的每个内的压力传感器。