[发明专利]触控面板及位置检测方法

权利要求书

1.一种触控面板，其特征在于，包括：

第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；

第2导电膜，其具有多个沿另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域，所述另一个方向与所述一个方向大致直交；以及

第3导电膜，

其中，所述第1导电膜的多个分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的多个分离区域沿所述一个方向排列，

通过所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电电容耦合的坐标位置的位置检测，

通过检测出所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行所述接触的坐标位置的位置检测，

在使用所述第1导电膜和所述第2导电膜进行位置检测的情况下，使用所述第2导电膜的多个分离区域的一部分，

在使用所述第2导电膜和所述第3导电膜进行位置检测的情况下，使用所述第2导电膜的多个分离区域的全部。

2.根据权利要求1所述的触控面板，其中，所述第2导电膜形成在第2透明基板的一个面上，

所述第3导电膜形成在第3透明基板的一个面上，

所述第2透明基板的形成所述第2导电膜的一个面和所述第3透明基板的形成所述第3导电膜的一个面被配置为互相面对。

3.根据权利要求2所述的触控面板，其中，在所述第3透明基板的另一个面上形成有第4导电膜。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的触控面板，其中，所述第2导电膜的分离区域之间的间隔被形成为，比所述第1导电膜的分离区域之间的间隔还窄。

5.根据权利要求1所述的触控面板，其中，

所述第1导电膜的各分离区域与电流检测部连接，

所述第2导电膜的分离区域的一部分与电流检测部连接，

所述第2导电膜的各分离区域与电位检测部连接，

所述第3导电膜与电位检测部连接。

6.根据权利要求5所述的触控面板，其中，

所述第2导电膜的各分离区域上连接有，用于使所述第2导电膜的各分离区域沿所述另一个方向产生电位梯度的开关，

所述第3导电膜上连接有，用于使所述第3导电膜沿所述一个方向产生电位梯度的开关。

7.一种触控面板，其特征在于，包括：

第1基板，其上形成有多个带状的第1导电膜，所述第1导电膜沿第1方向延伸，并在所述第1方向的一个端部具有电极；

第2基板，其上形成有多个带状的第2导电膜，所述第2导电膜沿与所述第1方向直交的第2方向延伸，并在所述第2方向的两个端部具有电极；以及

第3基板，其上形成有面状的第3导电膜，

其中，所述第1基板、所述第2基板、及所述第3基板依次被积层，

在使用所述第1导电膜和所述第2导电膜进行位置检测的情况下，驱动多个所述第2导电膜的一部分，

在使用所述第2导电膜和所述第3导电膜进行位置检测的情况下，驱动多个所述第2导电膜的全部。

8.根据权利要求7所述的触控面板，其中，

在使用所述第1导电膜和所述第2导电膜进行位置检测的情况下，对多个所述第2导电膜每隔一个地进行驱动。