[发明专利]触控面板及位置检测方法

说明书

一种触控面板，包含第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；第2导电膜，其具有多个沿与所述一个方向大致直交的另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；以及第3导电膜，所述第1导电膜的分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的分离区域沿所述一个方向排列，其中，通过所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电电容耦合的坐标位置的位置检测，并且通过检测所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行所述接触的坐标位置的位置检测。

本发明是2014年8月11日进入中国国家阶段的、国家申请号为“201380008855.2”、发明名称为“触控面板及位置检测方法”的申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种触控面板及位置检测方法。

背景技术

触控面板是可直接向显示器进行输入的输入装置，在多数情况下，其被设置在显示器的前面以被使用。因为根据通过显示器所获得的视觉信息可直接进行输入，所以触控面板可被应用于各种用途。

作为这样的触控面板，广为周知的有电阻膜方式及静电容方式。电阻膜方式的触控面板是在形成有透明导电膜的上部电极基板及下部电极基板上各透明导电膜彼此相向(面对)地被设置，通过在上部电极基板的一点进行施力，各透明导电膜彼此接触，以进行施力位置的位置检测。

电阻膜方式的触控面板可大致分为4线式、5线式、及二极体式。4线式是在上部电极基板或下部电极基板中的任一个上设置有X轴电极，在另一个上设置有Y轴电极(例如，参见专利文献1)。另外，5线式是在下部电极基板上设置有X轴电极及Y轴电极，上部电极基板具有用于检测电压的探针的功能(例如，参见专利文献2)。此外，二极体式是在下部电极基板上设置有二极体结构，并设置有用于施加电压的2个电极及用于监视电位的4个电极，因为与在具有用于检测电压的探针的功能的上部电极基板上所形成的电极一起，共形成了7个电极，所以也被称为7线式(例如，参见专利文献3)。

另外，静电容方式是通过手指等接近触控面板，对触控面板的透明电极等中所流动的电流进行检测，以进行位置检测。

再有，因为在触控面板中静电容方式及电阻膜方式具有不同的特征，所以还公开了一具有将电阻膜方式触控面板和静电容方式触控面板进行了积层的结构的触控面板(例如，参见专利文献4、5)。

<现有技术文献>

<专利文献>

专利文献1：(日本)特开2004-272722号公报

专利文献2：(日本)特开2008-293129号公报

专利文献3：(日本)特开2005-196280号公报

专利文献4：(日本)实用新型登录第3132106号公报

专利文献5：(日本)实用新型登录第3139196号公报

专利文献6：(日本)特开2009-116849号公报

发明内容

<本发明所要解决的技术问题>

然而，因为静电容方式触控面板是基于静电电容耦合的检测方式，所以其具有不需要进行压下、仅进行接触(touch)就可以进行位置检测的特征，但是，在进行基于绝缘体的接触时不能进行位置检测。另外，在电阻膜方式触控面板中，尽管具有不需考虑与触控面板接触的物体的材质等的特征，但是，因为位置检测是通过作为上部电阻膜的透明导电膜和作为下部电阻膜的透明导电膜相接触而进行的，所以，需要以预定(predetermined)的力对触控面板进行压下。

另一方面，专利文献4及5中所记载的是具有将静电容方式触控面板和电阻膜方式触控面板进行了积层的结构，其具有静电容方式触控面板和电阻膜方式触控面板这两者的良好特征。