[发明专利]电子部件用Cu‑Co‑Ni‑Si合金在审
申请号: | 201610866699.9 | 申请日: | 2016-09-30 |
公开(公告)号: | CN106995890A | 公开(公告)日: | 2017-08-01 |
发明(设计)人: | 堀江弘泰 | 申请(专利权)人: | JX金属株式会社 |
主分类号: | C22C9/06 | 分类号: | C22C9/06;C22F1/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 李炳爱 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 部件 cu co ni si 合金 | ||
技术领域
本发明涉及适合用于电子部件、特别是连接器、电池端子、插孔、继电器、开关、引线框架等的电子部件用Cu-Co-Ni-Si合金。
背景技术
以往,一般而言作为电气·电子设备用材料,除了铁系材料之外,还广泛使用电子导电性和导热性优异的磷青铜、红色黄铜(丹銅)、黄铜等铜系材料。近年,针对电气·电子设备的小型化、轻量化、高性能化、进一步伴随这些的高密度安装化的要求提高,对适用于其的铜系材料也要求多种特性。
伴随部件的小型化,推进了材料的薄壁化,要求材料强度的提高。在继电器等的用途中,对疲劳特性的要求提高,需要提高强度。此外,伴随部件的小型化,弯曲加工时的条件变得严苛,在具备高强度的同时还要求弯曲加工性优异。进一步,对部件而言,在进行加工后,伴随通电量的上升而存在发热的情况,从抑制发热的观点出发,要求提高导电率。
在专利文献1中,公开了弯曲加工性、强度、导电率的平衡优异的Cu-Ni-Co-Si系合金,将板表面的来自{111}面的衍射强度设为I{111}、来自{200}面的衍射强度设为I{200}、来自{220}面的衍射强度设为I{220}、来自{311}面的衍射强度设为I{311}、这些衍射强度当中来自{200}面的衍射强度的比例为R{200}=I{200}/(I{111}+I{200}+I{220}+I{311})时,R{200}为0.3以上。
在专利文献2中,公开了高强度、且具有良好的弯曲加工性、并且还为高导电率的本发明的电气电子部件用铜合金板材,具体而言,公开了下述技术:在基于SEM-EBSD法的测定结果中,以立方(Cube)取向起算的偏离角度(取向差)小于15°的晶粒的面积率小于10%,并且以立方取向起算的偏离角度为15~30°的晶粒的面积率为15%以上,由此兼顾强度和弯曲加工性。
现有技术文献
专利文献:
专利文献1:日本特开2009-007666号公报
专利文献2:国际公开第2011/068124号。
发明内容
发明所要解决的课题
然而,根据专利文献1的记载,由于在完成所有步骤的最终状态下的R{200}很大程度上取决于材料的再结晶中所发展出的结晶取向,所述材料的再结晶在制造步骤当中的最后的中间固溶热处理中发生,因此优选适当地调整该最后的中间固溶热处理之前的步骤,具体而言,进行50%以上的加工率的冷轧,进行使其部分再结晶或者可以得到平均晶粒直径为5μm以下的再结晶组织那样的热处理,接着在50%以下的加工率的冷轧之后,进行最后的中间固溶热处理,由此可以实现所期望的衍射强度。
此外,在专利文献2中记载了下述内容:经历铸造、热轧、冷轧1、中间退火、冷轧2、固溶热处理、冷轧3、时效热处理、完成冷轧、低温退火的各步骤而进行制造时,使冷轧1的轧制率为70%以上,此外,在600~1000℃下以5秒至300秒进行固溶处理,此外,进行5~40%的轧制率的冷轧3,由此形成所期望的集合组织,特别地记载了下述内容:在冷轧3中,通过冷轧辊的粗糙度不同的辊来实施异摩擦轧制是有效的。
今后,对科森(Corson)铜合金除要求高强度且高导电之外还要求弯曲性、以及一般而言难以兼顾强度和弯曲性,从提高可靠性的观点出发,还留有改善的余地。
解决课题的手段
本发明人经深入研讨的结果是,在Cu-Co-Ni-Si合金中,如果可以使析出物的组成统一,则位错变得相同,弯曲加工时的应力变得得以分散,从期待提高弯曲加工性的观点出发,发现了最适合的固溶处理条件,从而完成了本发明。
即,本发明是:
(1) 电子部件用Cu-Co-Ni-Si合金,其含有0.5~3.0质量%的Co和0.1~1.0质量%的Ni,以Ni相对于Co的浓度(质量%)比(Ni/Co)达到0.1~1.0的方式进行调整,并且以(Co+Ni)/Si质量比达到3~5的方式含有Si,并且余量由Cu和不可避免的杂质构成,对至少100个第二相粒子进行测定得到的Co相对于Ni的浓度比(Co/Ni)的变动系数为20%以下。
(2) 如(1)所述的合金,其进一步含有总计最大1.0质量%的选自Fe、Mg、Sn、Zn、B、P、Cr、Zr、Ti、Al和Mn中的至少一种。
(3) 如(1)或(2)所述的合金,其中,粒径为5~30nm的第二相粒子的个数平均为3.0×108个/mm2以上。
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