[发明专利]一种消光比测试装置

权利要求书

1.一种消光比测试装置，其特征在于，包括：衰减器，光电二极管，无自动增益控制电路的跨阻放大器，均方根检波器、运算放大器、模拟数字转换芯片和中央处理器，其中，所述衰减器的输出端与所述光电二极管的输入端连接，所述光电二极管的输出端与所述跨阻放大器的输入端连接，所述跨阻放大器的输出端与所述均方根检波器的输入端连接，所述均方根检波器的输出端与所述运算放大器的输入端连接，所述运算放大器的输出端与所述模拟数字转换芯片的输入端连接，所述模拟数字转换芯片与所述中央处理器相连；

所述衰减器，用于将接收的光信号衰减得到衰减后的光信号，并将所述衰减后的光信号传递给所述光电二极管；

所述光电二极管，用于将所述衰减后的光信号转化为电流信号，并将所述电流信号输出给所述跨阻放大器；

所述跨阻放大器，用于将所述电流信号转化为差分信号并将所述差分信号输出给所述均方根检波器；

所述均方根检波器，用于将所述差分信号转换为直流电压信号，并将所述直流电压信号输出给所述运算放大器；

所述运算放大器，用于放大所述直流电压信号，并将放大后的所述直流电压信号输出给所述模拟数字转换芯片；

所述模拟数字转换芯片，用于将放大后的所述直流电压信号转换为数字信号，并将所述数字信号发送给所述中央处理器；

所述中央处理器，用于利用所述数字信号对照预先设置的数字信号与消光比对应关系查找得到待测光收发器的消光比。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述中央处理器与所述模拟数字转换芯片通过串行外设接口SPI连接。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括误码发生器，其中，所述误码发生器，用于与所述待测光收发器的输入端连接，向所述待测光收发器发送伪随机信号，所述伪随机信号用于所述待测光收发器转换为所述光信号。

4.一种消光比测试方法，其特征在于，包括：

待测光收发器接收误码发生器产生的伪随机信号，并将所述伪随机信号转换为光信号输出给衰减器，

所述衰减器将接收的所述光信号衰减得到衰减后的光信号，并将所述衰减后的光信号传递给光电二极管；

所述光电二极管将所述衰减后的光信号转化为电流信号，并将所述电流信号输出给无自动增益控制电路的跨阻放大器；

所述跨阻放大器将所述电流信号转化为差分信号并将所述差分信号输出给均方根检波器；

所述均方根检波器将所述差分信号转换为直流电压信号，并将所述直流电压信号输出给运算放大器；

所述运算放大器放大所述直流电压信号，并将放大后的所述直流电压信号输出给模拟数字转换芯片；

所述模拟数字转换芯片将放大后的所述直流电压信号转换为数字信号，并将所述数字信号发送给中央处理器；

所述中央处理器利用所述数字信号对照预先设置的数字信号与消光比对应关系查找得到所述待测光收发器的消光比。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，通过以下方式设置所述数字信号与消光比的对应关系：

将校准光源设备作为待测光收发器接入所述衰减器；

所述校准光源设备将不同的消光比的光信号输入到所述衰减器的输入端；

所述中央处理器分别记录所述不同的消光比的光信号在模拟数字转换芯片输出端输出的数字信号，得到所述数字信号用与不同的消光比的对应关系。