[发明专利]一种消光比测试装置

说明书

本发明一方面提供了一种消光比测试装置以解决现有技术中消光比测试装置测试进度高的装置价格昂贵，价格便宜的测试装置测试精度不足的问题，装置包括：衰减器，光电二极管，无自动增益控制电路的跨阻放大器，均方根功率检波器、运算放大器、模拟数字转换芯片和中央处理器，其中，该衰减器的输出端与该光电二级管的输入端连接，该光电二极管的输出端与该跨阻放大器的输入端连接，该跨阻放大器的输出端与该均方根检波器的输入端连接，该均方根检波器的输出端与该运算放大器的输入端连接，该运算放大器的输出端与该模拟数字转换芯片的输入端连接，该模拟数字转换芯片与该中央处理器相连。

技术领域

本发明涉及通信和计算机领域，特别涉及一种消光比测试装置及方法。

背景技术

目前利用光纤在通讯设备中做传输介质有很明显的技术优势特征。相比传统的同轴双绞线劣势，光纤的传输容量大，传输距离远，传输损耗低，抗辐射抗干扰能力强，且更加容易进行高度集成化和智能化的组网设备。作为光网络里各结点的重要器件光收发器，其性能指标的优劣直接影响了整个光网络的工作性能状态与稳定。而光收发器的消光比作为衡量光收发器的一个重要的指标。现在厂家普遍的测试方法为：一是利用国际厂商提供的光示波器(例如安捷伦公司的86100、泰克公司的DS8300等)测试消光比数据，但此种测试方法测试成本高，不利于生产大范围使用；另一方面示波器的体积较大，在生产搭建和配置环境时便利性大为降低。二是利用雪崩二极管和带有自动增益控制(AGC)的跨阻放大器(TIA)搭配电压检测器完成消光比检测与测试。此种方式虽能够低成本的完成消光比测试，但是无法保证消光比的准确性，同时对大消光比和小消光比的测试精度无法保证。现有技术中消光比测试装置测试进度高的装置价格昂贵，价格便宜的测试装置测试精度不足的问题，目前没有解决方案。

发明内容

本发明提供了一种消光比测试装置及方法，以至少解决现有技术中消光比测试装置测试进度高的装置价格昂贵，价格便宜的测试装置测试精度不足的问题。

本发明一方面提供了一种消光比测试装置，包括：衰减器，光电二极管，无自动增益控制电路的跨阻放大器，均方根检波器、运算放大器、模拟数字转换芯片和中央处理器，其中，该衰减器的输出端与该光电二极管的输入端连接，该光电二极管的输出端与该跨阻放大器的输入端连接，该跨阻放大器的输出端与该均方根检波器的输入端连接，该均方根检波器的输出端与该运算放大器的输入端连接，该运算放大器的输出端与该模拟数字转换芯片的输入端连接，该模拟数字转换芯片与该中央处理器相连；该衰减器，用于将接收的光信号衰减得到衰减后的光信号，并将该衰减后的光信号传递给该光电二极管；该光电二极管，用于将该衰减后的光信号转化为电流信号，并将该电流信号输出给该跨阻放大器；该跨阻放大器，用于将该电流信号转化为差分信号并将该差分信号输出给该均方根检波器；该均方根检波器，用于将该差分信号转换为直流电压信号，并将该直流电压信号输出给该运算放大器；该运算放大器，用于放大该直流电压信号，并将放大后的该直流电压信号输出给该模拟数字转换芯片；该模拟数字转换芯片，用于将放大后的该直流电压信号转换为数字信号，并将该数字信号发送给该中央处理器；该中央处理器，用于根据该数字信号得到该测光收发器的消光比。

进一步地，本发明实施例的中央处理器与模拟数字转换芯片通过串行外设接口SPI连接。

进一步地，该装置还包括误码发生器，该误码发生器用于与该待测光收发器的输入端连接，向该待测光收发器发送伪随机信号，该伪随机信号用于该待测光收发器转换为该光信号。