[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201610890269.0 申请日: 2012-08-22
公开(公告)号: CN106887437B 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 小山润 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 叶晓勇;姜甜
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,包括:

第一晶体管;

第二晶体管;

第三晶体管;以及

第四晶体管,

其中,所述第一晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第一布线,

其中,所述第一晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第二布线以及所述第二晶体管的源极和漏极中的一个,

其中,所述第二晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第三布线,

其中,所述第三晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第四布线,

其中,所述第三晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第二晶体管的栅极,

其中,所述第四晶体管的源极和漏极中的一个电连接到所述第四布线,

其中,所述第四晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第一晶体管的栅极,

其中,所述第一晶体管的所述栅极电连接到所述第三晶体管的栅极,

其中,所述第三布线被供应时钟信号,以及

其中,所述第二布线输出信号。

2.一种半导体装置,包括:

第一晶体管;

第二晶体管;

第三晶体管;

第四晶体管;以及

第五晶体管,

其中,所述第一晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第一布线,

其中,所述第一晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第二布线以及所述第二晶体管的源极和漏极中的一个,

其中,所述第二晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第三布线,

其中,所述第三晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第四布线,

其中,所述第三晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第二晶体管的栅极,

其中,所述第四晶体管的源极和漏极中的一个电连接到所述第四布线,

其中,所述第四晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第一晶体管的栅极,

其中,所述第一晶体管的所述栅极电连接到所述第三晶体管的栅极,

其中,所述第五晶体管的源极和漏极中的一个电连接到所述第二晶体管的所述栅极,

其中,所述第五晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第五布线,

其中,所述第三布线被供应时钟信号,以及

其中,所述第二布线输出信号。

3.一种半导体装置,包括:

第一晶体管;

第二晶体管;

第三晶体管;以及

第四晶体管,

其中,所述第一晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第一布线,

其中,所述第一晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第二布线以及所述第二晶体管的源极和漏极中的一个,

其中,所述第二晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第三布线,

其中,所述第三晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第四布线,

其中,所述第三晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第二晶体管的栅极,

其中,所述第四晶体管的源极和漏极中的一个电连接到所述第四布线,

其中,所述第四晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第一晶体管的栅极,

其中,所述第一晶体管的所述栅极电连接到所述第三晶体管的栅极,

其中,所述第三布线被供应时钟信号,

其中,所述第二布线输出信号,以及

其中,所述第一晶体管的沟道宽度大于所述第三晶体管的沟道宽度。

4.一种半导体装置,包括:

第一晶体管;

第二晶体管;

第三晶体管;

第四晶体管;以及

第五晶体管,

其中,所述第一晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第一布线,

其中,所述第一晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第二布线以及所述第二晶体管的源极和漏极中的一个,

其中,所述第二晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第三布线,

其中,所述第三晶体管的源极和漏极中的一个电连接到第四布线,

其中,所述第三晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第二晶体管的栅极,

其中,所述第四晶体管的源极和漏极中的一个电连接到所述第四布线,

其中,所述第四晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到所述第一晶体管的栅极,

其中,所述第一晶体管的所述栅极电连接到所述第三晶体管的栅极,

其中,所述第五晶体管的源极和漏极中的一个电连接到所述第二晶体管的所述栅极,

其中,所述第五晶体管的所述源极和所述漏极中的另一个电连接到第五布线,

其中,所述第三布线被供应时钟信号,以及

其中,所述第二布线输出信号,以及

其中,所述第一晶体管的沟道宽度大于所述第三晶体管的沟道宽度。

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