[发明专利]绕线元件的检测装置及其检测方法有效
申请号: | 201610903098.0 | 申请日: | 2016-10-17 |
公开(公告)号: | CN107202920B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 范富强;邹明颖;柯廷翰;吴南世 | 申请(专利权)人: | 致茂电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08;G01R27/26 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;尚群 |
地址: | 中国台湾桃*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绕线元件 储电单元 测试区间 检测装置 开关单元 量测单元 预设 放电电流 谐振电容 导通 量测 控制开关单元 供电路径 预设电流 释放 谐振 检测 阻抗 耦接 储存 监测 | ||
1.一种绕线元件的检测装置,其特征在于,包括:
一储电单元,用以储存一预设电能;
一谐振电容,并联于一绕线元件;
一开关单元,设置于该储电单元和该绕线元件之间的一供电路径上,于一测试区间开始时,该开关单元导通,该储电单元释放该预设电能至该绕线元件及该谐振电容;
一量测单元,耦接于该绕线元件的两端,用以依据该绕线元件于该测试区间的电压值,产生一量测波形;以及
一控制单元,于该测试区间中,监测该储电单元释放该预设电能时的一放电电流,并于该放电电流的电流值降低至一预设电流值时,控制该开关单元不导通,该控制单元依据该量测单元产生的该量测波形,判断该绕线元件谐振时的阻抗值是否异常,该控制单元依据该开关单元不导通后的部分该量测波形,判断该绕线元件谐振时的阻抗值是否异常。
2.如权利要求1所述的绕线元件的检测装置,其特征在于,该控制单元依据该开关单元不导通前的部分该量测波形,还判断该绕线元件的层间耐压测试是否异常。
3.如权利要求2所述的绕线元件的检测装置,其特征在于,该控制单元比较该量测波形与一预设电压波形,判断该绕线元件谐振时的阻抗值及层间耐压测试是否异常。
4.如权利要求2所述的绕线元件的检测装置,其特征在于,于该测试区间中,该开关单元不导通后,该量测单元产生的该量测波形开始振荡,该控制单元依据该量测波形于多个时间区间中的面积,判断该绕线元件的电压值衰减比例,该控制单元依据该绕线元件电压值的衰减比例,还判断该绕线元件谐振时的阻抗值大小。
5.如权利要求1所述的绕线元件的检测装置,其特征在于,该储电单元释放该预设电能至该绕线元件的该供电路径上具有一输出阻抗,其中该控制单元依据该预设电能和该输出阻抗的大小,判断该预设电流值。
6.一种绕线元件的检测方法,其特征在于,包括:
以一储电单元储存一预设电能;
于一测试区间开始时,导通该储电单元与一绕线元件之间的一供电路径,使该储电单元释放该预设电能至该绕线元件及一谐振电容;
于该测试区间中,监测该储电单元释放该预设电能时的一放电电流;
于该放电电流的电流值降低至一预设电流值时,不导通该供电路径;
依据该绕线元件于该测试区间中两端的电压值,产生一量测波形;以及
依据该量测波形,判断该绕线元件谐振时的阻抗值是否异常;
其中,于该绕线元件谐振时的阻抗值是否异常的步骤中,包括依据该供电路径不导通后的部分该量测波形,判断该绕线元件谐振时的阻抗值是否异常。
7.如权利要求6所述的绕线元件的检测方法,其特征在于,并依据该供电路径不导通前的部分该量测波形,还判断该绕线元件的层间耐压测试是否异常。
8.如权利要求7所述的绕线元件的检测方法,其特征在于,于判断与该谐振电容谐振时,该绕线元件的阻抗值是否异常的步骤中,包括比较该量测波形与一预设电压波形,并依据比较结果判断该绕线元件的阻抗值及层间耐压测试是否异常。
9.如权利要求7所述的绕线元件的检测方法,其特征在于,该供电路径不导通后,该量测波形开始振荡,依据该量测波形于多个时间区间中的面积,判断该绕线元件的电压值衰减比例,并依据该绕线元件电压值的衰减比例,判断该绕线元件与该谐振电容谐振时,该绕线元件的阻抗值大小。
10.如权利要求6所述的绕线元件的检测方法,其特征在于,该供电路径上具有一输出阻抗,该绕线元件的检测方法还包括依据该预设电能的大小和该输出阻抗,判断该预设电流值。
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