[发明专利]绕线元件的检测装置及其检测方法

说明书

一种绕线元件的检测装置及其检测方法，该检测装置具有储电单元、谐振电容、开关单元、量测单元及控制单元。储电单元储存预设电能。开关单元设置于储电单元和绕线元件之间的供电路径上。于测试区间开始时，开关单元导通，储电单元释放预设电能至绕线元件及谐振电容。量测单元耦接于绕线元件的两端，依据绕线元件于测试区间的电压值产生量测波形。控制单元于测试区间中，监测储电单元释放预设电能时的放电电流，并于放电电流的电流值降低至预设电流值时，控制开关单元不导通。控制单元依据量测单元产生的量测波形，判断绕线元件谐振时的阻抗值是否异常。

技术领域

本发明涉及一种绕线元件的检测装置及其检测方法，特别是一种判断绕线元件谐振时的阻抗值是否异常的绕线元件的检测装置及其检测方法。

背景技术

一般绕线元件，例如电感器、马达或其他具有线圈的电子元件被使用于电气电子产品中时，可能因线圈自体绝缘不良的潜在因素。绝缘不良的潜在因素让绕线元件在短期使下，使用的功能维持正常，但长期使用下可能影响产品稳定性及寿命。因此，绕线元件必须使用层间耐压测试设备来检验品质。层间耐压测试设备可为连续性地高频高压或脉冲测试，在线圈两端加规格高压，并观察在此高压下线圈是否产生崩溃或电气放电。

部分的绕线元件因铁芯材料的绝缘程度较差，存在于线圈中的能量会因为材料电阻而发热耗散，导致储能和耗能的比例偏低，亦即品质因数Q值较低。通常品质因数Q值较低的绕线元件必须被检验出来，以对不良的绕线元件加工、改良或丢弃，但以往对于绕线元件进行的层间耐压测试并无法测出品质因数Q值较低的绕线元件，使得绕线元件的检测上更为繁琐复杂。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种绕线元件的检测装置及其检测方法，借以解决现行的层间耐压测试无法测出品质因数Q值较低的绕线元件的问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种绕线元件的检测装置，具有储电单元、谐振电容、开关单元、量测单元及控制单元。储电单元用以储存预设电能。开关单元设置于储电单元和绕线元件之间的供电路径上。于测试区间开始时，开关单元导通，储电单元释放预设电能至绕线元件及谐振电容。量测单元耦接于绕线元件的两端，用以依据绕线元件于测试区间的电压值，产生量测波形。控制单元于测试区间中，监测储电单元释放预设电能时的放电电流，并于放电电流的电流值降低至预设电流值时，控制开关单元不导通。控制单元依据量测单元产生的量测波形，判断绕线元件谐振时的阻抗值是否异常。

为了更好地实现上述目的，本发明还提供了一种绕线元件的检测方法，包括：

以一储电单元储存一预设电能；

于一测试区间开始时，导通该储电单元与一绕线元件之间的一供电路径，使该储电单元释放该预设电能至该绕线元件及一谐振电容；

于该测试区间中，监测该储电单元释放该预设电能时的一放电电流；

于该放电电流的电流值降低至一预设电流值时，不导通该供电路径；

依据该绕线元件于该测试区间中两端的电压值，产生一量测波形；以及

依据该量测波形，判断该绕线元件谐振时的阻抗值是否异常。

本发明的技术效果在于：

根据上述本发明所揭露的绕线元件的检测装置及其检测方法，借由储电单元提供预设电能给绕线元件，以进行层间耐压测试的期间，于预设电能的电流直到达预设电流值时，断开储电单元提供预设电能给绕线元件的供电路径，使绕线元件的量测波形开始产生振荡。从振荡的量测波形可以判断出绕线元件谐振时的阻抗值是否异常，进而判断绕线元件的品质因数Q值是否符合标准。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为根据本发明一实施例绕线元件的检测方法的步骤流程图；