[发明专利]一种工件台非正交校正方法及校正装置有效
申请号: | 201610925970.1 | 申请日: | 2016-10-24 |
公开(公告)号: | CN107976869B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 马琳琳;杨志勇;孙刚;朱健;朱树存 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 工件 正交 校正 方法 装置 | ||
1.一种工件台非正交校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:在工件台上用于承载基板的粗动旋转台上设置非正交测量标记,所述非正交测量标记至少设有三个,且不在一条直线上;
S2:选取三个所述非正交测量标记,移动工件台,使视觉单元分别对准三个所述非正交测量标记,获得三个所述非正交测量标记的位置,同时通过干涉仪测量单元测量对准时所述工件台的位置x_s_i、y_s_i,其中i=1,2,3;
S3:根据所述视觉单元测得的三个所述非正交测量标记的位置及所述视觉单元在整机零位坐标系下的位置,计算三个所述非正交测量标记在整机零位坐标系下的位置x_PZCS_i、y_PZCS_i,并结合所述工件台的位置x_s_i、y_s_i计算三个所述非正交测量标记在工件台坐标系下的测量位置x_PSCS_i、y_PSCS_i:
S4:根据三个所述非正交测量标记在工件台坐标系下的测量位置x_PSCS_i、y_PSCS_i和在所述粗动旋转台坐标系下的名义位置x_PTCS_i,y_PTCS_i计算所述工件台的非正交量Non_ortho:
Non_ortho=rpux-rpuy;
cpux、cpuy表示三个所述非正交测量标记相对于工件台的平移量;
rpux、rpuy表示三个所述非正交测量标记相对于工件台在X、Y向的旋转量;
Mpux表示三个所述非正交测量标记相对于工件台在X、Y方向的膨胀量;
S5:将测量得到的工件台的非正交量相对预设的标准基板的非正交量的变化值作为补偿量,并补偿到所述干涉仪测量单元中。
2.根据权利要求1所述的校正方法,其特征在于,在所述粗动旋转台上设置三个反射镜,每个反射镜上至少设有一个所述非正交测量标记。
3.根据权利要求1所述的校正方法,其特征在于,所述视觉单元测量所述非正交测量标记的同时测量所述基板的边缘线,用于基板预对准。
4.根据权利要求1所述的校正方法,其特征在于,步骤S2中采用两个视觉单元同时测量三个所述非正交测量标记中的两个非正交测量标记的位置,之后移动所述工件台,使剩下的一个非正交测量标记对准所述两个视觉单元中的一个。
5.一种实现权利要求1所述工件台非正交校正方法的校正装置,其特征在于,包括:
非正交测量标记,设置在工件台上用于承载基板的粗动旋转台上,所述非正交测量标记至少设有三个,且不在一条直线上;
视觉单元,用于获得所述非正交测量标记的位置;
干涉仪测量单元,用于测量所述工件台的位置;
还包括校正单元,根据所述非正交测量标记在粗动旋转台坐标系下的名义位置、所述视觉单元获得的所述非正交测量标记的位置以及所述工件台的位置计算所述工件台的非正交量,并发送至所述干涉仪测量单元进行补偿校正。
6.根据权利要求5所述的校正装置,其特征在于,所述粗动旋转台上设有三个反射镜,每个反射镜上设有至少一个所述非正交测量标记。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备(集团)股份有限公司,未经上海微电子装备(集团)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610925970.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。