[发明专利]数模混合电路、SoC芯片及模拟电路修调方法有效
申请号: | 201610956856.5 | 申请日: | 2016-10-28 |
公开(公告)号: | CN108023585B | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 胡如波;施乐宁;罗鑫 | 申请(专利权)人: | 福州瑞芯微电子股份有限公司 |
主分类号: | H03K19/003 | 分类号: | H03K19/003 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 高彦 |
地址: | 350003 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数模 混合 电路 soc 芯片 模拟 方法 | ||
本发明的数模混合电路、SoC芯片及模拟电路修调方法,数模混合电路包括:模拟电路,用于处理模拟信号;修调电路,连接模拟电路,用于根据修调信息修调模拟电路的电路参数;存储器,存储修调信息;数字电路,连接修调电路及存储器,其包括:寄存器,用于存储数字电路读取自存储器的修调信息以供修调电路读取来执行修调,修调信息的尾部包含特定信息,数字电路在将特定信息写入寄存器后锁定寄存器以令其内的修调信息不能被修改;采用本发明的技术方案,正确的修调结果被妥善保护了,不会再被误操作修改掉;并且当验证修调逻辑时,可以直接对寄存器进行操作,而不需要从存储器开始进行修调逻辑单元的验证,大大方便了修调验证。
技术领域
本发明涉及集成电路设计技术领域,特别是涉及数模混合电路、SoC芯片及模拟电路修调方法。
背景技术
使用OTP(one time program)单元或Flash存储模拟修调信息,芯片上电后,数字电路读取OTP或Flash中的修调信息,并且将修调单元的逻辑信息传递给模拟电路,模拟电路根据修调控制逻辑调整模拟电路的参数。
这样导致要验证修调信息是否正确,需要对OTP中的每一个修调逻辑进行改写操作。增加了修调信息验证的复杂性,特别是当模拟的修调比特数比较多的时候。
若数字电路设计成修调结束后,修调电路的功能仍然开放,则软件运行时有可能会对修调电路误操作,使得之前正确的修调结果被改变。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供数模混合电路、SoC芯片及模拟电路修调方法,通过硬件设计来锁定寄存器内修调信息,从而解决现有技术中的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种数模混合电路,包括:模拟电路,用于处理模拟信号;修调电路,连接所述模拟电路,用于根据修调信息修调所述模拟电路的电路参数;存储器,存储所述修调信息;数字电路,连接所述修调电路及存储器,其包括:寄存器,用于存储所述数字电路读取自所述存储器的修调信息以供所述修调电路读取来执行所述修调,所述修调信息的尾部包含特定信息,所述数字电路在将特定信息写入所述寄存器中某一位后锁定整个所述寄存器以令其内的修调信息不能被修改。
于本发明的一实施例中,在所述特定信息写入所述寄存器之前,所述寄存器设置成能写入所述修调信息,所述修调电路根据所述寄存器的修调信息进行所述修调,并根据模拟电路对应的修调结果来验证所述已写入寄存器的修调信息正确与否。
于本发明的一实施例中,所述存储器的类型包括非挥发性记忆体。
于本发明的一实施例中,所述非挥发性记忆体包括:闪存或一次可编程记忆体。
于本发明的一实施例中,所述特定信息位于所述修调信息的最后一比特位。
于本发明的一实施例中,述数字电路根据特定信息对应寄存器位设置整个所述寄存器为只读状态以锁定整个所述寄存器以令其内的修调信息不能被修改。
于本发明的一实施例中,所述电路参数的类型包括:电流或电压。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种SoC芯片,包括所述的数模混合电路。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种模拟电路修调方法,应用于所述的数模混合电路,所述方法包括:所述数字电路将读取自所述存储器的修调信息写入所述寄存器,以供所述修调电路读取来执行所述修调;所述数字电路在将特定信息写入所述寄存器中某一位后锁定整个所述寄存器以令其内的修调信息不能被修改。
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